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Bauteil-/Halbleiter-Test

8 Gsps Signalgenerator / 8 GHz Digitizer-Modul für SoC-Test

09. Juli 2013 - Advantest stellt das neue T2000 8GWGD Instrument vor, das einen 8 Gsps (Gigasamples per Second) Signalgenerator und einen 8 GHz Digitizer für den Test von SoC-Bauteilen (System-on-Chip) in Massenspeicher und Festplatten-Laufwerken (HDDs), in einem Modul kombiniert.

"Advantest dominiert den SoC-Tester Markt seit langem, indem wir mehr als die Hälfte der heute hergestellten SoCs testen", sagt Hans-Jürgen Wagner, Senior Vice President, SoC Business Group der Advantest Corporation. "Mit diesem neuen Tester bieten wir eine Lösung für den schnell wachsenden Cloud-Computing-Markt an. Hier werden weltweit massive Server-Farmen aus Milliarden von HDDs aufgebaut."

Die T2000-Plattform eignet sich in Kombination mit dem 8GWGD (8 Gsps Waveform Generator / 8 GHz Digitizer Modul) und dem 8GDM (8 Gbps Digital Modul) ideal für den Test schneller SerDes-PHY-Layer Schnittstellen und komplexer, schneller analoger Signale von Massenspeicher SoCs.

Mit dem Arbitrary Wave Generator (AWG) im neuen Modul von Advantest lassen sich komplexe Signale wie PRML- (Partial Response Maximum Likelihood) und Multiton-Signale in einem großen Frequenzbereich erzeugen. Dies ist beispielsweise für schnelle A/D-Wandler und analoge Frontend-Bauteile, wie Vorverstärker, interessant. Ein einzigartiges Merkmal ist der Gate-Ausgang, der mit dem AWG für hochpräzise Timings synchronisiert werden kann.

Der Digitizer des neuen Moduls kann analoge Signale mit großer Bandbreite erfassen und dadurch den Systemdurchsatz erhöhen. Zudem erlaubt er die Messung von Augendiagrammen, Anstiegs-/Abfallzeiten und Durchlaufverzögerungen sowie Periode-zu-Periode- und Langzeit-Jitter. Dies ermöglicht einen Test von schnellen Digital-Analog-Wandlern und Vorverstärkern aber auch von schnellen Digitalschnittstellen und PLL-Bauteilen (Phase-Locked Loop).

www.advantest.de/



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