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Bauteil-/Halbleiter-Test

Test von NAND Flash und NAND-basierten MCPs

22. Juli 2013 - Advantest liefert das neue T5831 Testsystem jetzt an Kunden aus. Das System wurde für den Test von ICs der nächsten Generation entwickelt, die in mobilen Anwendungen wie NAND Flash mit schnellen ONFi oder Toggle Mode Schnittstellen sowie managed NAND-Bauteilen (eMMC - embedded Multi-Media Card) eingesetzt werden. Der vielseitige Tester unterstützt auch einen parallelen Test von NAND Flash und Mobile DRAM in einem Multi-Chip-Gehäuse (MCP).

Das Design des T5831 ermöglicht einen hochparallelen Test mit voller Funktionalität bei niedrigen Testkosten. Für die heutigen Testanforderungen bietet das System somit die wirtschaftlichste Lösung an, indem seine Erweiterbarkeit für künftige Aufgaben dem Kunden eine langfristige Rentabilität gewährleistet. Die zusätzlich erhältliche Engineering-Lösung T5831-ES ist ideal für die Testprogrammentwicklung und die Bauteilcharakterisierung geeignet und verkürzt die Time-to-Market für den Kunden.

Einige Schlüsselmerkmale des Systems minimieren die Testzeit für NAND Flash. Die Tester-Per-SiteTM Architektur des Systems ermöglicht einen hohen Durchsatz und durch den sehr hohen Strom pro DUT lassen sich die Programmier- und Lösch-Operationen beschleunigen. Außerdem kann die Tester-Hardware eine On-the-Fly-Analyse von Fehlerkorrekturcodes (ECC) ausführen, wodurch der Testzeit-Overhead für das Post-Processing entfällt.

Die quellensynchrone Echtzeit-Funktionalität maximiert die Fertigungsausbeute und erhöht den Durchsatz gegenüber konventionellen Post-Processing-Methoden. Das System führt automatisch Cycle-by-Cycle-Abgleiche aus, um das Driftverhalten aufgrund von PVT-Unterschieden (Prozess, Spannung, Temperatur) und Jitter zu berücksichtigen. Dadurch lässt sich eine Datenaugen-Genauigkeit für eine optimale Fertigungsausbeute bei hoher Geschwindigkeit sicherstellen. Weitere notwendige Funktionen, wie Bad-Block-Management, Redundanzanalyse und die Generierung kundenspezifischer/Random-Daten werden ebenfalls unterstützt. Somit ist der T5831 der ideale Tester für alle NAND-Flash-Testanforderungen.

"Diese neue Testlösung bietet die von unseren Kunden derzeit benötigte Leistungsfähigkeit und Erweiterbarkeit für künftige Testanforderungen", sagt Masuhiro Yamada, Executive Vice President of Memory Test bei Advantest Corporation. "Mit dem T5831 kann Advantest seine Führungsposition im ATE-Markt und die weltweite installierte Basis von mehr als 8.000 Speichertestsystemen ausbauen."

www.advantest.de/



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