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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Universelle Testplattform für Protokoll-basierte Flash-Speicher

23. August 2013 - Advantest Corporation steigt mit der universellen NEO-SSD-Plattform in den Markt für den Test von fortschrittlichen PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe SSD-Laufwerken (Solid State Drive). Das Unternehmen baut eine Familie von Testlösungen auf, die voraussichtlich ab dem vierten Quartal 2013 an Kunden ausgeliefert werden. Die konfigurierbare NEO-SSD-Plattform unterstützt verschiedene Protokolle und erfüllt die speziellen Testanforderungen von SSD-Systemen im kompletten Produktzyklus von der Entwicklungsvalidierung und Design-Verifizierung über den Zuverlässigkeitsnachweis bis zum Produktionstest.

Die SSD-Produktionsmengen sollen bis 2017 um den Faktor fünf auf über 200 Millionen Einheiten ansteigen, schätzt das Marktforschungsunternehmen Gartner. Da sich der Markt noch im Anfangsstadium befindet und eine große Verbreitung erwartet wird und da sowohl die Bauteilprotokolle als auch die Teststrategien noch verfeinert werden müssen, sind effektive Testlösungen mit hoher Leistungsfähigkeit und Flexibilität gefragt.

Die NEO-SSD-Plattform nutzt die Tester-per-DUT-Architektur von Advantest und ermöglicht den Kunden ein optimales Preis-Leistungs-Verhältnis entsprechend den Anforderungen. Das System wurde speziell für den Test unterschiedlicher Formfaktoren wie Laufwerke und Karten sowie verschiedener Protokolle (z.B. PCIe 3.0 Schnittstelle) entwickelt. Als künftiger Bus-Standard für Datenzentren, Desktop-Computer, Ultrabooks und mobile Elektronikgeräte stellt PCIe neue Anforderungen an den Testmarkt. Dadurch müssen neue Protokolle in verschiedenen Versionen (wie PCIe NVMe, AHCI, UFS und SAS), höhere Busgeschwindigkeiten bei voller Performance und eine bessere Steuerung der Bauteil-Stromversorgungen unterstützt werden. Dies erfordert effiziente Multiprotokoll-Testlösungen mit hoher Skalierbarkeit und Kosteneffizienz, um eine hochvolumige und qualitativ hochwertige Produktion von SSDs zu ermöglichen.

"NEO-SSD erlaubt uns die Entwicklung der ersten wirklich skalierbaren, Plattform-basierten Lösungen für SSDs, die leistungsfähige Tests, hohe Arbeitsgeschwindigkeit und hohe Signalintegrität bei sehr niedrigen Testkosten kombinieren", sagt Colin Ritchie, Vice President von GTRI, Advantest America. "Durch den Einsatz unserer Tester-per-DUT-Architektur müssen die NEO-SSD-Tester keine Ressourcen teilen. Dies ermöglicht den Unternehmen einen Durchbruch bei Leistungsfähigkeit und Qualität, ohne dass Kompromisse hinsichtlich der Zykluszeit oder Testabdeckung notwendig sind."

www.advantest.de/



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