Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Bauteil-/Halbleiter-Test

Testlösung für DDR4- und LPDDR4-Speicher-Chips

Advantest-T5503HS13. Februar 2014 - Advantest stellt eine neue Testlösung für Speicher-ICs der nächsten Generation vor, die in aktuellen mobilen Geräten und Servern eingesetzt werden. Das neue T5503HS bietet hoch parallele Testmöglichkeiten und eignet sich als voll kompatible Erweiterung für die weit verbreitete Advantest Testplattform T5503. Es zeichnet sich durch führende Leistung, hohe Produktivität und niedrige Testkosten sowie einfache Erweiterbarkeit aus.

Da internet-fähige mobile Geräte und deren unterstützende Server immer größere Datenmengen bewältigen müssen, benötigen die Hersteller schneller Speicherchips mit hoher Speicherkapazität kosteneffiziente Testlösungen, mit denen sie ihre neuesten DDR4-SDRAM- und LPDDR4-SDRAM-Halbleiter schneller auf den Markt bringen können. Das Advantest T5503HS System stellt den Speicherherstellern die dafür notwendige Funktionalität bei gleichzeitiger Testkostenreduzierung zur Verfügung.

"Unser neues Testsystem ist die optimale Testlösung für DDR4-SDRAMs und LPDDR4-SDRAMs der nächsten Generation", sagt Masuhiro Yamada, Executive Vice President Memory Test der Advantest Corporation. "Das T5503HS bietet maximale Effizienz, sodass unsere Kunden den höchsten Nutzen aus der von ihnen getätigten Investition erhalten.“

Das neue Testsystem erreicht eine Testgeschwindigkeit von bis zu 4,5 Gbps und ist somit ausreichend schnell für den Test der maximalen Datenrate von 4,266 Gbps modernster DDR-SDRAM-Halbleiter. Um eine maximale Testgeschwindigkeit zu gewährleisten, generiert das T5503HS automatisch passende CRC-Codes (Cyclic Redundancy Check) und CA-Paritätscodes für die jeweiligen I/O-Datenraten und Adressen der zu prüfenden Bauteile. Damit lassen sich neue Testprogramme schneller entwickeln, der Arbeitsaufwand unserer Kunden kann reduziert und die Time-to-Market für neue Halbleiter-Designs verkürzt werden.

Das T5503HS erlaubt einen parallelen Test von bis zu 512 DDR4-SDRAM-Bauteilen und damit einen wirtschaftlichen Produktionstest großer Stückzahlen. Außerdem können bereits installierte T5503 Tester vor Ort erweitert werden, was die Rentabilität (ROI) bei der Einführung von Bauteilen der nächsten Generation verbessert.

Darüber hinaus lässt sich mit der „real-time source-synchronous“ Funktion des Testers eine höhere Ausbeute und ein höherer Durchsatz erreichen. In die System-Hardware ist eine Timing-Training-Fähigkeit integriert, durch die sich mit diesem Tester schneller Lösungen finden lassen als mit anderen derzeit erhältlichen konventionellen Systemen. Dadurch lässt sich die Testzeit gegenüber software-basierten Systemen reduzieren.

Weitere Funktionen wie die Einstellung einzelner Pegel, I/O Dead-Band-Canceling und Datenbus-Inversion (DBI) ermöglichen eine zusätzliche Reduzierung der Datenübertragungszeiten, so dass das T5503HS ideal für Tests von schnellen Speichern geeignet ist.

Das System wird ab dem zweiten Quartal dieses Jahres an Kunden ausgeliefert werden.

www.advantest.de/



Aktuelle Termine

VIP 2017
18. bis 19. Oktober 2017
zur Terminübersicht...
eMove360 - 2017
18. bis 20. Oktober 2017
zur Terminübersicht...
productronica 2017
14. bis 17. November 2017
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px