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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Digitale Kanalkarte für den Test von extrem schnellen SerDes-Halbleitern

19. März 2014 - Advantest hat die neue digitale Pin Scale Serial Link (PSSL) Kanalkarte für die At-Speed-Charakterisierung und die Serienproduktion von aktuellen Hochgeschwindigkeits-Halbleitern vorgestellt. PSSL ist das derzeit schnellste voll integrierte ATE-Instrument (Automated Test Equipment) und unterstützt Datenraten bis zu 16 Gbps.

Die neue PSSL-Karte bietet eine deutlich höhere Geschwindigkeit und Performance im Vergleich zu den bisherigen Advantest Pin Scale Karten und ermöglicht somit einen erschwinglichen At-Speed-Test von Highend-ICs. Sie basiert auf der universellen Pin-Architektur der V93000 Smart Scale Systeme und eignet sich für einen Per-Pin-Test mit hoher Multi-Site-Effizienz. Jeder Pin auf der PSSL-Karte kann mit einer individuellen Datenrate arbeiten, wodurch eine bislang beispiellose Granularität in der ATE-Industrie erreicht wird.

Durch die genaue Anpassung auf die jeweilige Taktgeschwindigkeit der einzelnen Ports wird eine volle Testabdeckung gewährleistet, ohne dass Kompromisse hinsichtlich der Pin-Zahl oder der Timing-Flexibilität notwendig sind. Alle Ressourcen arbeiten unabhängig und gleichzeitig, so dass die PSSL-Karte ideal für die Großserienproduktion geeignet ist. Damit kann die neue Karte fortschrittliche ICs für Infrastruktur- und Netzwerk-Anwendungen testen, wie 10G/40G/100G Ethernet, PCI Express (PCIe) Schnittstellen oder die proprietäre 10G bis 16G Backplane SerDes Technologie. Letztere wird beispielsweise in der LTE-Kommunikationsinfrastruktur in China genutzt.

Zusätzlich zum Handling von führenden Datenübertragungsraten bis zu 16 Gbps unterstützt die PSSL umfassende PHY-Testverfahren (Physical Layer). Hierzu gehören PRBS (Pseudorandom Bit Stream) Stimulus und Response, Jitter-Injektion und -Messung, sowie AC- und DC-Analysen, um eine umfassende Margin-Testabdeckung zu erreichen.

"Der Test der derzeit schnellsten IC-Schnittstellen mit einer ausreichenden Abdeckung erfordert eine At-Speed-Testlösung, die niedrige Testkosten gewährleisten kann", sagt Hans-Jürgen Wagner, Senior Vice President der SoC Business Group von Advantest Corporation. "Unsere neue PSSL-Karte gewährleistet diese Geschwindigkeit und Performance, wodurch Advantest seine Führungsposition bei sehr schnellen ATE-Instrumenten weiter ausbauen kann."

Advantest hat bereits mehrere Kundenbestellungen für die neue PSSL-Karte erhalten und mit der Auslieferung begonnen.

www.advantest.de



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