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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform

06. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 Enhanced Device Power Supply 150A (DPS150AE) Modul vorgestellt. Mit diesem kann die T2000-Testplattform die Last-Anforderungen für eine hochgenaue Prüfung sowohl von Hochstrom- als auch von Niederspannungs-Halbleitern erfüllen, wie Mikroprozessor-Einheiten (MPUs), ASICs (Application Specific IC) und FPGAs (Field Programmable Gate Array). Das Modul verbessert die Fähigkeiten der T2000 Plattform bei Multi-Site-Tests mit hohem Durchsatz der genannten Bauteile und gewährleistet niedrigste Testkosten.

Das DPS150AE Modul ist als eine im Feld durchführbare Erweiterung oder als eine werksseitige Option für das T2000 EPP (Enhanced Performance Package) System erhältlich und erhöht die Testflexibilität. Durch die High-Speed-Bus-Fähigkeit des Moduls und das Advantest Smart Test Condition Memory (TCM) erlaubt das T2000 EPP System ein Modul-Splitting, bei dem ein Modul mehrere Bauteile gleichzeitig prüfen kann. Jedes der zu prüfenden Bauteile (DUT) kann unabhängig überwacht und bewertet werden.

Das neue Modul erlaubt auch eine schnellere Einstellung und Anpassung der Testbedingungen mittels TCM. Diese Funktion lädt vorab alle Parameter eines Testprogramms und enthält eine Bearbeitungsfunktion, so dass der Testingenieur die Einstellungen sofort ändern kann.

Das DPS150AE verfügt über acht Kanäle mit Hochstrom-Funktionen (HC), die einen hohen Ausgangsstrom von bis zu 16 Ampere liefern, und acht Kanäle mit Funktionen für einen niedrigeren Strom (LC), die einen Ausgangsstrom von bis zu 2,66 Ampere unterstützen. Außerdem steht eine Funktion zur Verfügung, um mehrere Kanäle außerhalb des Moduls parallel zu schalten. Dadurch lassen sich mit dem Modul bis zu 80 Kanäle mit HC-Funktionen und einem Ausgangsstrom von je 16 Ampere koppeln, so dass bis zu 1.280 Ampere für Hochstrom-Bauteile erzeugt werden können.

"Durch die hohe Parallelität unseres neuen DPS-Moduls und die Möglichkeit sehr kostengünstige Tests bei mehreren Versorgungsspannungen auszuführen, können unsere Kunden unterschiedlichste IC-Typen schnell und effizient prüfen", sagt Dr. Toshiyuki Okayasu, Executive Officer und Executive Vice President der SoC Test Business Group von Advantest Corporation. "Die Flexibilität des Systems ermöglicht einen kostengünstigen Test und unterstützt unsere Kunden dabei ihre neuesten Bauteil-Designs schneller auf den Markt zu bringen."

Das DPS150AE ist voraussichtlich ab August erhältlich.

www.advantest.de/



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