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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Schneller Kennlinien-Analysator für Komponententest

Februar 2009 - Yokogawa stellt einen U/I-Kennlinien Analysator mit hoher Plotgeschwindigkeit für den DC Parametertest an Halbleitern und optischen Komponenten vor.

Das Paket besteht aus der kompakten, einkanaligen Source-Measure-Unit GS610 oder der mehrkanaligen Source-Measure-Unit GS820 und einer PC Software (Modell 7656-70). Die Datenverbindung wird über eine USB Schnittstelle hergestellt.

Die integrierte Source-Measure-Unit (SMU) kann als Quelle und als Senke (elektronische Last) verwendet werden kann, was besonders beim Entladungstest von Akkumulatoren und Batterien von Vorteil ist. Um den großen Spannungsbereich von wenigen μV bis 110 V bzw. Strombereich von wenigen pA bis 3 A abzudecken, ist eine manuelle oder automatische Bereichsumschaltung vorgesehen. Der Endwert wird typischerweise in 100 μs erreicht, was die Simulation extrem schneller Lastwechsel ermöglicht (Puls-Modus).

Spannung, Strom und Widerstand kann in 2- oder 4-Leiterschaltung wie bei einem 5½ stelligen DMM gemessen werden. Die Bereichswahl ist wiederum manuell oder automatisch, die kürzeste Integrationszeit beträgt 20 μs. Die Messwerte können gemittelt und in einem 100k großen Speicher abgelegt werden. Eine Grenzwertüberwachung ist durch den integrierten Komparator mit oberer und unterer Schwelle möglich. Das Ergebnis des Vergleiches steht als Logiksignal (Go/NoGo) zur Verfügung. Für Produktionsanwendungen lässt sich damit etwa ein Handler zur Bauteile-Klassifizierung ansteuern.

Die Kennlinien-Software ist für einfache Bedienbarkeit optimiert. Hilfetexte unterstützen den Setup für Sweep, Achsenauswahl, Messbereiche und Messbedingungen. Die Kennlinien können auf der Basis verschiedener Kombinationen von Spannung und Strom zusammen mit Zeitmarken erstellt werden. Die Sweep-Form kann zwischen Rampe (linear oder logarithmisch), Dreieck oder Rechteck gewählt werden. Die Anzahl der Messpunkte ist von 5 bis 1000 einstellbar.

Neben Skalierungen und Mittelwertbildung sind weitere Analysewerkzeuge wie Cursor, Zoom, Scroll und Einblendung von Referenzkurven vorhanden.

Der Kennlinien-Analysator ist ideal für das schnelle Testen von DC Parametern an diskreten Halbleitern, Analog-IC´s, MOS Logikbausteinen und optischen Komponenten wie z.B. LED´s und Solarzellen geeignet.

http://tmi.yokogawa.com/de/



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