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Bauteil-/Halbleiter-Test

PXI-basiertes automatisches Halbleiterprüfsystem

NI-sts 1683925. September 2014 – National Instruments hat die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS) vorgestellt. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, die für die Prüfung von RF- und Mixed-Signal-Bauteilen kostengünstige PXI-Module von NI und anderen Herstellern nutzen. Die Systeme lassen sich in der Charakterisierung und Produktion einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten sowie zur anschließenden Markteinführung benötigt.

"Da die Komplexität integrierter Schaltkreise rasant wächst, gewinnen kosteneffiziente automatisierte Halbleiterprüfsysteme, die eine optimale Testabdeckung in Anwendungen von der Designverifizierung bis hin zur Endprüfung bieten, immer mehr an Bedeutung", so Dr. Hans-Peter Kreuter, Senior Design und Applikations-Ingenieur für Automotive Body Power Produkte bei Infineon Technologies. "Bei Mixed-Signal-Tests übertrifft die neue PXI-basierte Produktreihe STS die Leistung vergleichbarer automatisierter Testsysteme durch eine optimale Testabdeckung bei niedrigen Kosten."

Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Insbesondere bei RF- und Mixed-Signal-Tests macht dies jedoch einen großen Unterschied, da die Anforderungen der aktuellen Halbleitertechnologien häufig die Testabdeckung klassischer automatisierter Testsysteme übersteigen. Durch die Testmanagementsoftware TestStand und die Systemdesignsoftware LabVIEW sind STS mit umfangreichen Funktionen für die Halbleiterproduktion ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung, Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat und integrierter standortübergreifender Support. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen, was wiederum in einer beschleunigten Markteinführung resultiert. Zusätzlich können STS direkt in eine Prüfzelle in der Halbleiterproduktion integriert werden. Dies ist dank des Prüfkopfs im Zero-Footprint-Design, Standardschnittstellen und Docking-Mechanismen möglich.

Die Produktreihe STS umfasst drei unterschiedliche Modelle – T1, T2 und T4 –, die jeweils mit einem, zwei oder vier PXI-Chassis ausgerüstet werden können. Aufgrund der unterschiedlichen Größen sowie der einheitlichen Software, Messtechnik und des Verbindungsmechanismus in allen STS-Modellen können Anwender für zahlreiche Anforderungen an Pinanzahl und Flächendichte das optimale Modell finden. Dank ihrer Skalierbarkeit kommen STS von der Charakterisierung bis hin zur Produktion sinnvoll zum Einsatz und sparen dabei nicht nur Kosten, sondern verkürzen auch die Markteinführungszeiten.

www.ni.com/



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