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Bauteil-/Halbleiter-Test

Parameter-Messmodul für SoC-Tests

26. November 2014 - Advantest hat mit der T2000 PMU32E eine neue universelle Parameter-Messeinheit (PMU) vorgestellt und damit die Testmöglichkeiten der T2000 Plattform beim Test von digitalen, analogen und Power-Management-System-On-Chip (SoC) Bauteilen erweitert. Das neue hochintegrierte 32-Kanal-Modul ist zum bisherigen Advantest PMU32 Modul voll kompatibel. Es nutzt sogar dieselbe Test Interface Unit (TIU), bietet aber die doppelte Auflösung und Genauigkeit.

Ein mit dem neuen PMU32E Modul ausgestatteter T2000 Tester erreicht dadurch eine sehr hohe Messgenauigkeit, kurze Set-up Zeit und die Möglichkeit des Zusammenschaltens, ähnlich wie ein T2000 EPP (Enhanced Performance Package) Tester.

"Durch den Einsatz unseres neuen sehr leistungsfähigen PMU-Moduls erhalten unsere Kunden bei geringen Investitionskosten die Funktionalität eines EPP-Testers", sagt Dr. Toshiyuki Okayasu, Executive Officer und Executive Vice President der SoC Test Business Group von Advantest Corporation.

Mit dem T2000 PMU32E kann die Messzeit gegenüber dem bisherigen Modul um mehr als die Hälfte verkürzt werden. Insbesondere DC-Linearitätsmessungen laufen durch die höhere Abtastrate und Datenübertragungsrate sehr viel schneller ab. Die höhere Arbeitsgeschwindigkeit ermöglicht eine deutliche Durchsatzsteigerung und niedrigere Testkosten.

Das neue Modul erlaubt zudem die Ausführung von Testprogrammen, die bereits für das bisherige PMU32 Modul entwickelt wurden. Außerdem verfügt das neue Modul über eine doppelt so große Speicher-Kapazität, was die Möglichkeiten des kanalunabhängigen Arbiträr-Signalgenerators (AWG) und des Digitizers erweitert.

Das PMU32E unterstützt mit seiner ISVM-Funktion (Current Source and Voltage Measurement) auch einen Lasttest von On-Die-Reglern (ODR).

Advantest wird das PMU32E Modul voraussichtlich ab dem ersten Quartal 2015 an Kunden ausliefern.

www.advantest.de/



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