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Bauteil-/Halbleiter-Test

Test von GaN- und SiC-Bauteilen

bsw Pulsed IV Module 4T 10016. April 2015 - bsw TestSystems & Consulting hat verschiedene neue Testlösungen für GaN- und SiC-Bauelemente vorgestellt. Diese Technologien werden beispielsweise in AC/DC-, DC/DC-Konvertern von Energiesystemen für LEDs, Solarzellen oder Ladegeräte für Kfz-Batterien genutzt. Um das spezifische Verhalten dieser Bauelemente genau untersuchen zu können, werden hoch genaue DC-Messungen und sehr kurze Pulse mit hohen Strömen oder Spannungen am Drain benötigt.

Das neues HV/HC-Testfixture AM249-4 reduziert das Aufschwingen der DUT mit Hilfe von im Adapter enthaltenen Anti-Oszillations-Schaltungen. Zusammen mit dem 1000V/30A Drain-Pulser erhöht sich außerdem die Sicherheit im Messaufbau.

Nicht selten werden neben hohen Strömen auch hohe Spannungen benötigt. Der neue Drain Pulser liefert sehr kurze Pulse mit max. 30A und einer Länge von 400 ns. Zusätzlich arbeitet dieser Pulser als interne elektronische Sicherung.

Verbesserte Genauigkeit bei geringen und hohen Strom- und Spannungswerten zeigt der neue Gate Pulser AM213. Ebenso wird damit das Dämpfungsverhalten von Schwingungen verbessert.

www.bsw-ag.com/



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