Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Test von Speicher-ICs mit Datenraten von bis zu 16 Gbps

Advantest V9300024. August 2015 – Advantest hat mit der HSM16G die bisher schnellste voll integrierte Memory-Testkarte vorgestellt. Die neue Karte erweitert die High-Speed-Testfunktionen der Advantest V93000 HSM Tester für einen At-Speed-Test von ultraschnellen Memory-ICs auf bis zu 16 Gigabit pro Sekunde (Gbps) . Durch diese neue Produktvorstellung ist Advantest der erste Anbieter von automatischen Testsystemen (ATE), der eine integrierte Testlösung für die Bauteil-Entwicklung, das Debugging und die Volumen-Produktion der heute schnellsten GDDR5 und künftigen GDDR5X ICs mit parallelen Datenbussen mit bis zu 16 Gbps anbieten kann.

Die neue HSM16G Karte bietet umfassende Memory-Testmöglichkeiten, wie die Generierung von algorithmischen Per-Pin-Pattern, um alle Arten von Fehler-Algorithmen zu prüfen. Zudem ermöglicht sie auch eine Ermittlung der Fail-Bitmap. Die hochgenaue Per-Pin-Clock mit einem Jitter von weniger als 1 Picosekunde ermöglicht die derzeit genauesten Jitter-Messungen. Aufgrund der Per-Pin-basierten arbiträren Jitter-Modulation zur Bauteil-Charakterisierung und zum Stresstest sowie einer Reihe von integrierten Analyse-Tools stellt die Karte umfassende Messfunktionen für eine gründliche Bauteil-Charakterisierung zur Verfügung. Mittels einer programmierbaren Abgleichmethode lassen sich Kabelverluste kompensieren und die Anstiegszeit anpassen, um höchste Signalintegrität sowohl in der Entwicklung als auch in der Produktion zu gewährleisten. Mit einer integrierten Suche Per-Pin zur schnellen Ausrichtung auf die Mitte des Datenauges, einer schnellen Messung der Höhe und Breite von Augendiagrammen sowie einer integrierten Zeitmesseinheit (TMU) für Jitter-Messungen stehen wichtige Funktionen für die Volumen-Produktion zur Verfügung.

Für Memory-ICs mit seriellen Busschnittstellen, wie PCI Express (PCIe) und UFS (Universal Flash Storage), bietet die HSM16G Karte umfassende Möglichkeiten für eine PHY-Charakterisierung (Physical Layer Test). Dadurch kann die Karte alle Memory-Bauteile mit seriellen High-Speed-Schnittstellen oder parallelen High-Speed-Speicher-Bussen abdecken.

Durch die vollständige Kompatibilität mit der Hard- und Software der V93000 HSM Serie kann die HSM16G Karte ab Werk installiert oder in bestehenden Kundensysteme nachgerüstet werden. Da sich alle vorhandenen Testprogramme für HSM Tester mit minimalen Anpassungen wiederverwenden lassen, wird eine nahtlose Erweiterbarkeit gewährleistet. Mit einer nur geringen Ausweitung der Anwenderkenntnisse lässt sich so eine Verdoppelung des Durchsatzes beim High-Speed-Test von DRAM-Bauteilen erreichen.

Mit einer Taktfrequenz von 16 Gbps auf der neuen Karte ist der Tester schneller als jedes andere derzeit auf dem Markt erhältliche System. Um die heutigen schnellsten ICs prüfen zu können, müssen andere Tester durch Zusatzlösungen und ein komplexes Multiplexing zwei 10-Gbps Kanäle kombinieren. Nur so können sie die höheren erforderlichen Geschwindigkeiten erreichen. Aufgrund des nachträglichen Multiplexings wird die APG-Patterngenerierung allerdings deutlich eingeschränkt. Zudem steht nur eine begrenzte Funktionalität für die Charakterisierung und das Debugging zur Verfügung. Durch die 16-Gbps Geschwindigkeit der HSM16G lässt sich diese Einschränkung vermeiden. Mit der voll integrierten HSM16G Karte bietet die V93000 Plattform die derzeit umfassendsten High-Speed-Memory-Testmöglichkeiten auf dem Markt.

"Mit diesem neuen Produkt sichert sich Advantest nicht nur weiterhin die unumstrittene Führungsposition beim Test der neusten und schnellsten Memory -ICs, sondern demonstriert auch, dass unsere neuen Testlösungen den Anforderungen unserer Kunden sogar einen Schritt voraus sind", sagt Masuhiro Yamada, Executive Vice President der Memory Test Business Group von Advantest Corporation. "Dadurch, und da unsere Lösungen die Leistungs- und Produktivitätsanforderungen der Anwender erfüllen sowie gleichzeitig eine höchste Rentabilität gewährleisten, konnten wir uns bei weltweiten Kunden als bevorzugter Partner etablieren."

HSM16G Module wurden bereits zur Evaluierung ausgeliefert. Erste Kundenbestellungen werden schon bearbeitet.

www.advantest.de/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung