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Bauteil-/Halbleiter-Test

Memory Testsystem für UFS- und PCIe BGA SSDs

Advantest T585115. Januar 2016 – Advantest stellt mit dem T5851 System eine kostengünstige Testlösung für leistungsfähige UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und PCIe BGA Halbleiter-Speicherlaufwerke (SSDs) vor. Diese Memory-ICs werden derzeit besonders von den Herstellern stromsparender, mobiler Anwendungen wie Smartphones, Tablets und kompakten Notebooks stark nachgefragt.

Der flexible T5851 Tester ist sowohl als Produktions- als auch als Entwicklungsmodell verfügbar. Dadurch eignet sich das System nicht nur für die Zuverlässigkeits- und Qualifikationsprüfung sowie die Testprogramm-Entwicklung. In Kombination mit einem Testhandler, wie dem Advantest M6242, ist das System ebenso für die Serienproduktion geeignet. Als eine voll integrierte Testlösung auf Systemebene bietet der T5851 eine Multi-Protokoll-Unterstützung, wobei seine Tester-per-DUT-Architektur und der proprietäre Hardware-Beschleuniger kürzeste Testzeiten ermöglichen.

Der T5851 basiert auf derselben bewährten Testarchitektur wie die Advantest MPT3000 SSD-Testlösungen. Durch die Verwendung derselben vielseitigen Plattform und der FutureSuite™ Software, die auch bei den anderen Produkten der T5800 Familie zum Einsatz kommen, wird das Investitionsvolumen und Einsatzrisiko für die Anwender minimiert. Die Konfiguration und Leistung lassen sich für beliebige Testobjekte optimieren. Die modulare Erweiterbarkeit des Systems gewährleistet darüber hinaus eine hohe Wirtschaftlichkeit auch für die Zukunft.

Die skalierbaren, programmierbaren Hochstromversorgungen (PPSs) des Systems unterstützen alle Bauteiltypen der aktuellen und nächsten Generation. Außerdem bietet der T5851 Tester durch das robuste Modul-Design und die Flüssigkeitskühlung erstklassige Zuverlässigkeit.

"Die steigende Nachfrage nach fortschrittlichen Speicherlösungen mit sehr schnellen, energieeffizienten seriellen Schnittstellen und sehr leistungsfähigen Speicherprotokollen ist vor allem auf die mobile stromsparende Elektronik zurückzuführen", sagt Masuhiro Yamada, Executive Officer bei Advantest.“ Die Hersteller von Memory-ICs brauchen eine neue Klasse von Tester, die auf die Prüfung dieser Bauteile auf Systemebene spezialisiert sind, aber gleichzeitig die hohe Zuverlässigkeit, die niedrigen Kosten und den hohen Durchsatz konventioneller Memory-Tester gewährleisten. Unser neuer T5851 erfüllt diese Anforderungen."

Die Auslieferung der Produktionssysteme beginnt voraussichtlich im ersten Quartal 2016.

www.advantest.de/



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