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Bauteil-/Halbleiter-Test

Test von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität

Advantest V9300014. Juli 2016 – Advantest hat die Wave Scale Karten für die V93000 Plattform vorgestellt, die sich durch einen höchsten Durchsatz beim Test von HF- (Hochfrequenz-) und Mixed-Signal-ICs für die drahtlose Kommunikation auszeichnen. Die neuen V93000 Wave Scale RF und V93000 Wave Scale MX Karten wurden speziell für hochparallele Multi-Site- und parallele In-Site-Tests entwickelt.

Sie erlauben eine deutliche Reduzierung der Testkosten und der Time-to-Market für aktuelle Hochfrequenz-Halbleiter. Zudem sind sie bereits für den Test künftiger 5G Bauteile vorbereitet.

Die neuen Karten wurden speziell für den Markt der Hochfrequenz- und drahtlosen Kommunikation entwickelt. Sie stellen hoch effiziente Testlösungen für Halbleiter zur Verfügung, die in LTE-, LTE-Advanced- und LTE-A-Pro-Smartphones sowie in LTE-M-, WLAN-, GPS-, ZigBee-, Bluetooth- und IoT-Anwendungen zum Einsatz kommen. Die neuen Karten entsprechen den aktuellen Marktanforderungen und decken auch die bei 5G-Netzwerken erwarteten Technologie-Änderungen ab.

Im Vergleich zu den aktuell am Markt erhältlichen Lösungen verfügen die V93000 Wave Scale Karten über eine fortschrittlichere Architektur. Konventionelle Hochfrequenz-Testlösungen nutzen Multi-Site-Tests für Hochfrequenz-Bauteile, beispielsweise für vier oder acht Bauteile pro Test. Aber sie prüfen nur einen Hochfrequenz-Standard pro Site auf einmal. Wave Scale RF und die entsprechenden Wave Scale MX Karten können gleichzeitig mehrere Standards oder mehrere Pfade innerhalb eines Hochfrequenz-Bauteils prüfen. Dies ermöglicht eine In-Site-Parallelität und eine hohe Multi-Site-Effizienz, welche die Testkosten für diese komplexen Hochfrequenz-Bauteile deutlich reduzieren.

Die Wave Scale RF Karte umfasst vier unabhängige Hochfrequenz-Subsysteme pro Baugruppe mit individuellen Stimulus- und Messfrequenzen, die einen gleichzeitigen Test von LTE-, GPS-, Bluetooth- und WLAN-Bauteilen ermöglichen. Jedes Subsystem verfügt über acht einzelne Ports, die gleichzeitig das Hochfrequenz-Signal ausgeben, und über bis zu vier unabhängige Messinstrumente. Dadurch kann jedes Hochfrequenz-Subsystem für bis zu acht Sites genutzt werden, und somit sowohl RX- (Empfänger) als auch TX-Tests (Sender) gleichzeitig ausführen. Dies ergibt damit insgesamt 32 Sites pro Karte. Die Wave Scale RF Karte unterstützt bis zu 6 GHz mit jedem der 32 HF-Ports pro Karte. Zusammen mit einer Bandbreite von 200 MHz und verschiedenen anderen Merkmalen, wie interne Rückschleife (Loopback) und integrierte Kalibrierung, gewährleistet dies einen breiten Anwendungsbereich auch im Hinblick auf künftige 5G Halbleiter-Bauteile.

Die Wave Scale MX High-Speed-Karte wurde für analoge IQ-Basisband-Anwendungen und die Prüfung von High-Speed-DACs und ADCs optimiert. Sie bietet 32 vollständig unabhängige Instrumente pro Baugruppe und eine zusätzliche Parameter-Messeinheit (PMU) an jedem Pogo-Pin für hoch genaue DC-Messungen. Die 16-Bit-AC-Quelle und die Messfunktionen stellen eine optimierte Leistung für dedizierte Basisband-Kommunikationsstandards zur Verfügung. Mit einer Bandbreite von 300 MHz eignet sich diese Karte für die neuen fortschrittlichen Modulationsstandards, wie Out-of-Channel-Messungen bei aggregierten Basisband-Kanälen. Eine flexible I/O-Matrix reduziert die Loadboard-Komplexität und verbesserte die Multi-Site-Testfunktionen, so dass die volle Funktionalität an jedem Pogo-Pin zur Verfügung steht. Es wird keine dedizierte Kalibriereinrichtung benötigt, wobei nur die IQ-Kalibrierung eine separate Baugruppe erfordert.

Beide neue V93000 Karten, die Wave Scale RF und die Wave Scale MX, beinhalten einen Hardware-Sequenzer, der parallele, unabhängige Funktionen aller Instrumente steuert.

"Wave Scale ermöglicht unseren Kunden mit den schnellen Technologie-Änderungen der kommenden Halbleiter-Generationen Schritt zu halten", sagt Hans-Jürgen Wagner, Senior Vice President der SoC Product Group von Advantest Corporation. "Mit der Wave Scale können die aktuellen und künftigen Bauteil-Generationen zudem effizienter und kostengünstiger geprüft werden, was eine kürzere Time-to-Market ermöglicht."

Die ersten Wave Scale Karten wurden bereits in einem Fabless-Halbleiter-Unternehmen in China installiert, wo sie für den Test von aktuellen LTE Kategorie 6 Bauteilen und die Entwicklung von Testprotokollen für Kommunikations-ICs auf der Basis von LTE-Advanced Category 10 und Category 16 und darüber hinaus genutzt werden.

Die Wave Scale RF und Wave Scale MX Karten können bei Advantest ab sofort bestellt werden. Die Auslieferung größerer Stückzahlen erfolgt voraussichtlich ab dem dritten Quartal 2016.

www.advantest.de/



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