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Bauteil-/Halbleiter-Test

Wafer-Parameter-Testlösung für Leistungshalbleiter bis 3 kV

Keithley S540PTS01. November 2016 - Tektronix stellt das Keithley S540 Power Semiconductor Test System vor. Das voll automatisierte Parameter-Testsystem erlaubt die Prüfung von Leistungshalbleiter-Bauteilen und Strukturen auf Wafer-Ebene mit 48 Pins und bis zu 3 kV. Das voll integrierte S540 System ist für die neusten Verbindungshalbleiter-Materialien, wie Siliziumkarbid (SiC) und Gallium-Nitrid (GaN), optimiert und kann alle Hochspannungs-, Niederspannungs- und Kapazitätstests in einem einzigen Probe-Touchdown durchführen.

Das S540 kann parametrische Messungen mit bis zu 48 Pins durchführen, ohne dass Kabel oder die Probe-Card-Infrastruktur geändert werden müssen. Es kann außerdem Transistor-Kapazitätsmessungen, wie Ciss, Coss und Crss, bis zu 3 kV ausführen, auch hier ohne eine manuelle Umkonfiguration von Testpins. Um den Testdurchsatz weiter zu erhöhen, ermöglicht das S540 Sub-pA-Messungen und kann Hochspannungsleckstrom-Tests voll automatisiert in weniger als einer Sekunde durchführen.

Als ein kommerzielles Standardprodukt bietet das S540 vollständig rückverfolgbare Systemspezifikationen, erfüllt die einschlägigen Sicherheitsanforderungen, verfügt über Diagnosefunktionen und einen weltweiten Service und Support, was häufig bei selbstentwickelten oder kundenspezifischen Systemen nicht der Fall ist. Das S540 erlaubt es eine problemlose und sichere Integration führender Halbleiter-Testinstrumente, einschließlich von Nieder- und Hochspannungs-Schaltmatrizen, Verkabelung, Probecard-Adapter, Prober-Treibern und Testsoftware.

Preis & Verfügbarkeit

Das Keithley S540 ist ab sofort bestellbar und wird ab März 2017 ausgeliefert.

www.tek.com/



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