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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestImpedanzanalysator und LCR-Meter in einem Gerät28. Oktober 2010 - Das neue Modell HIOKI 3570(IM) hat alle Messmöglichkeiten für das Messen von LCR, DCR und sogar die Funktion Frequenz-Sweep in einem einzigen Gerät integriert. Zusätzlich werden durch die kurzen Messzeiten die Arbeitsabläufe erheblich reduziert.
Mit dem HIOKI 3570(IM) werden15 Parameter erfasst, über DC kann auch eine Frequenz von 4Hz bis 5MHz (Auflösung ca. 0,01Hz unter 1kHz) eingestellt werden. Dabei ist die Spannung von 5mV bis 5Vrms und der Strom von 10µA bis 50mA (bis 1MHz) wählbar. Mit einem bis zu 800 Messpunkten angesteuerten Durchlauf (Sweep) von Frequenz oder Pegel kann das Display auch die grafische Kurve (z.B. Resonanzverhalten) anzeigen. Messungen an Spulen, Transformatoren, Kondensatoren und Piezoelementen wie sie in der Forschung, der Entwicklung, an Hochschulen und in Unternehmen mit elektronischer Bauteilfertigung gefordert werden, können damit einfach und schnell durchgeführt werden. Mit bis zu 0,5ms kurzen Messzyklen ist es kaum noch an Messgeschwindigkeit zu übertreffen. Speziell bei Polymerkondensatoren werden bei der ESR-Messung eine hohe Präzision und Wiederholbarkeit im unteren mOhm-Bereich gefordert. Neben C und D Messungen an Kondensatoren sind auch Rdc, L und Q Messungen als LCR-Meter möglich. Mit der 2-/ bzw. 4-Terminalmessung, einer Prüfung der Kontaktierung am Messobjekt sind stabile Messungen auch mit Prüfkabellängen bis zu 4m machbar. Vereinfacht den Aufbau bei automatischen Testsystemen. Komparator mit variabler BIN- Funktion, moderne Schnittstellen (LAN, USB, RS232C, GP-IB) mitsamt einem I/O-Handler machen das exklusive Messgerät zu einem sehr vorteilhaften Instrument. Ein 5,7" Farb TFT Monitor mit Touch- Screen runden das Gerät zu einem im gesamten Gefüge stimmigen Konzept ab. www.asm-sensor.comWeitere News zum Thema: |
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