All-about-Test

1. Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest ...: (Bauteile); Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest 08. Januar 2019 – Advantest Corporation hat die Übernahme des Halbleiter System Level Test Geschäfts von Astronics Corporation fü ...; Erstellt am 08. Januar 2019
2. Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen ...: (Bauteile); Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen 23. Mai 2017 – Advantest Europe GmbH und Nash Technologies GmbH geben eine strategische Zusammenarbeit bei der Entwicklung ...; Erstellt am 19. Mai 2017
3. bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest ...: (Bauteile); bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest 08. Juli 2016 - Advantest und die die bsw TestSystems & Consulting mit Sitz in Sindelfingen haben eine Vertriebskooperation für das ne ...; Erstellt am 07. Juli 2016
4. Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform ...: (Bauteile); Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform 06. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 Enhanced Device Power Supply 150A (DPS150AE) Modul vorgestellt. Mit diesem kann die T2000-Testplattform ...; Erstellt am 06. August 2014
5. Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen ...: (Bauteile); Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen 20. Juni 2014 - Advantest wurde bei der jährlichen Kundenzufriedenheitsanalyse von VLSIresearch zum 26. Mal in Folge in die 10 BEST L ...; Erstellt am 20. Juni 2014
6. Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor ...: (Bauteile); Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor 08. Oktober 2013 - Advantest Europe, meldet, dass das Unternehmen der europäische Kooperationspartner von CloudTestingTM Service s ...; Erstellt am 08. Oktober 2013
7. Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor ...: (Bauteile); Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor 04. Juli 2013 - Advantest stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) ...; Erstellt am 04. Juli 2013
8. Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit ...: (Bauteile); Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit 01. Juli 2013 - Advantest gehört laut einer Kundenbefragung durch VLSIresearch erneut zu den weltweit 10 BEST Suppliers in 2 ...; Erstellt am 01. Juli 2013
9. Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI ...: (Bauteile); Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI 24. Mai 2013 - Advantest und das US-amerikanische Unternehmen w2bi.com haben die Übernahme von W2BI durch Advantest ver ...; Erstellt am 24. Mai 2013
10. Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein ...: (Bauteile); Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein 17. April 2013 - Advantest ist in den schnell wachsenden Tester-Markt für MEMS-basierte Sensoren (Mikro-elektromechanische Systeme) eingestiegen. An v ...; Erstellt am 17. April 2013
11. Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service ...: (Bauteile); Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service 10. Oktober 2012 – Advantest hat eine neue Tochtergesellschaft für den Vertrieb seines CloudTesting Service gegründet hat, die Tes ...; Erstellt am 10. Oktober 2012
12. Advantest liefert 500. V93000 Port Scale RF-Tester aus ...: (Kurznachrichten); 13. August 2012 – Advantest hat das 500ste V93000 Port Scale RF-Testsystem installiert. Das System geht in das Entwicklungslabor von Spreadtrum Communications (Shanghai), Co., Ltd., einem Fabless-Halbleiterunternehmen, ...; Erstellt am 13. August 2012
13. Advantest startet im Herbst CloudTesting Service ...: (Bauteile); Advantest startet im Herbst CloudTesting Service 04. Juli 2012 – Advantest wird im Herbst 2012 eine neue Testlösung namens CloudTesting Service (CTS) vorstellen, welche auf der Basis der Cloud-Computing-Technologie ...; Erstellt am 04. Juli 2012
14. Advantest liefert innerhalb der ersten 10 Monate bereits hundertstes V93000 Smart Scale System aus ...: (Kurznachrichten); 26. Juni 2012 – Nur zehn Monate nach der Vorstellung der neuen Smart Scale Tester-Generation hat die Advantest Corporation bereits das hundertste V93000 Smart Scale System ausgeliefert. Die Systeme dieser ...; Erstellt am 26. Juni 2012
15. Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an ...: (Bauteile); Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an 12. Juni 2012 – Advantest Corporation entwickelt eine neue Produktlinie von vollautomatischen und integrierten Test- und Handling-Lösungen für TSV-basierte (Th ...; Erstellt am 12. Juni 2012
16. Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit ...: (Bauteile); Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit 25. Mai 2012 – Advantest wurde bei der jährlichen Customer Satisfaction Survey des unabhängigen Marktforschers VLSI Research von den Kunden al ...; Erstellt am 25. Mai 2012
17. Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab ...: (Bauteile); Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab 04. April 2012 – Advantest Corporation meldet den erfolgreichen Abschluss der Integration der im Juli 2011 übernommen Firma Verigy Ltd. Inzwischen w ...; Erstellt am 04. April 2012
18. Advantest installiert tausendstes T2000 Testsystem ...: (Kurznachrichten); 22. Dezember 2011 - Advantest hat bei einem Hersteller von integrierten Halbleiterprodukten für die Computer- und Kommunikationstechnik das tausendste T2000 Testsystem installiert. Das System wird wie ...; Erstellt am 22. Dezember 2011
19. Verigy Aktionäre stimmen für Übernahme durch Advantest ...: (Kurznachrichten); 21. Juni 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. melden, dass die Aktionäre von Verigy der geplanten Übernahme von Verigy durch Advantest zugestimmt haben. Advantest wird somit alle ausgegebenen S ...; Erstellt am 21. Juni 2011
20. Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen ...: (Bauteile); Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen 30. März 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. haben eine Übernahme-Vereinbarung geschlossen, nach der Advantest seinen Mitbewerber Verigy fü ...; Erstellt am 30. März 2011
21. Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000 ...: (Bauteile); Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000 08. Dezember 2010 - Advantest hat drei neue Module und die Infrastruktur-Erweiterung Enhanced Performance Package (EPP) für die SOC-Testplattform T2000 vorgestellt. ...; Erstellt am 08. Dezember 2010
22. Advantest will Verigy übernehmen ...: (Kurznachrichten); 08. Dezember 2010 - Verigy, ein amerikanischer Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat bekanntgegeben, dass das Unternehmen ein Übernahmeangebot des Mitbewerbers Advantest erhalten hat. Erst im November ...; Erstellt am 08. Dezember 2010
23. Advantest zum 22. Mal in Folge unter den 10 BEST ...: (Kurznachrichten); 25. Mai 2010 - Advantest hat es in der jährlichen Kundenzufriedenheitsstudie von VLSI Research zum 22. Mal in Folge unter die 10 BEST geschafft. Das Unternehmen erreichte im Bereich Chip-Fertigungsanlagen ...; Erstellt am 25. Mai 2010
24. Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken ...: (Bauteile); Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken 08. Januar 2010 - Advantest Europe GmbH stellt mit dem E3610/E3620 ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken vor. D ...; Erstellt am 08. Januar 2010
25. Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte ...: (Allgemein); Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte 25. September 2009 - Advantest Corporation hat ein Terahertz (THz = 1012 Hz) Imaging System entwickelt und adressiert den Markt für zerstörungsfreie 3D ...; Erstellt am 25. September 2009
26. Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem T5503 vor ...: (Bauteile); Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor 3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen ...; Erstellt am 03. Juni 2009
27. Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern ...: (Bauteile); Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern 28. Mai 2009 - Advantest Corporation gehört laut der in jedem Jahr vom Marktforschungsunternehmen VLSI Research Inc. durchgeführten Un ...; Erstellt am 29. Mai 2009
28. Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest ...: (Bauteile); Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest 08. Mai 2009 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleitertestsystemen und ELMOS Semiconductor AG, ein Anbieter von Automotive-Halbleitern, ...; Erstellt am 08. Mai 2009
29. Advantest stellt neues Memory Test System vor ...: (Bauteile); Advantest stellt neues Memory Test System vor 20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und ...; Erstellt am 23. November 2008
30. Modularer drahtloser Daten-Logger für Messanwendungen: (Allgemein); Modularer drahtloser Daten-Logger für Messanwendungen 11. März 2019 – Advantest bietet seine drahtlosen Data Logger der AirLogger WM2000 Serie ab Februar auch in den USA, der EU und Thailand an. Die G ...; Erstellt am 11. März 2019
31. Test von Hochspannungs-ICs: (Bauteile); Test von Hochspannungs-ICs 14. Dezember 2018 – Advantest hat ein neues Modul für sein EVA100 Messsystem eingeführt, welches Prüfungen von Hochspannung-ICs für volumenstarke Verbraucheranwendungen erm ...; Erstellt am 14. Dezember 2018
32. Konvertierungssoftware für Halbleiter-Testpattern: (Bauteile); ... nd Advantest CloudTesting ServiceTM (CTS), Entwickler des ersten On-Demand Testservices für die Halbleiterindustrie, kündigen ein neues Softwaremodul zur Konvertierung von EDA Formaten (Electronic Design Au ...; Erstellt am 05. Dezember 2018
33. Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs: (Bauteile); Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs 13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die ...; Erstellt am 13. November 2018
34. electronica 2018: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick (2): (Allgemein); ... t mit Thermoelement A3.607 XJTAG Neue JTAG-Programmiersoftware v3.8 A3.470 Bauteiltest Unternehmen Neuheit Stand Advantest FVI 16 Floating Power VI-Quelle für V93 ...; Erstellt am 12. November 2018
35. Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher: (Bauteile); Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher 02. November 2018 – Advantest Corporation hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern auf den Markt gebracht. Die neuen Modelle ...; Erstellt am 02. November 2018
36. Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine: (Bauteile); Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine 19. Oktober 2018 – Advantest präsentiert die nächste Generation seiner B6700D Memory Burn-In Tester. Durch Messung der Funktionen von NAND Fl ...; Erstellt am 19. Oktober 2018
37. Test von Power-ICs für Automobil-, Industrie- und Consumer-Anwendungen: (Bauteile); Test von Power-ICs für Automobil-, Industrie- und Consumer-Anwendungen 11. Mai 2018 – Advantest erweitert das Produktportfolio seiner skalierbaren Testplattform V93000 mit der Floating Power VI Quelle ...; Erstellt am 07. Mai 2018
38. High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs: (Bauteile); High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs 11. April 2018 – Advantest hat seinen T5503HS2 Memory Tester vorgestellt. Die produktivste Testlösung der Branche ist sowohl für die schnellsten aktuellen Sp ...; Erstellt am 09. April 2018
39. Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter: (Bauteile); Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter 30. Januar 2018 – Advantest hat zwei neue Module für sein T2000 IPS System vorgestellt. Diese ermöglichen den Test von Hochspannungs- und Hochleistungs-Bauteilen, di ...; Erstellt am 29. Januar 2018
40. Testzelle für Differenzdrucksensoren: (Bauteile); Testzelle für Differenzdrucksensoren 17. Januar 2018 – Advantest hat mit der Stimulus-Testzelle HA7300 eine leistungsfähige Lösung zur Prüfung von Differenzdrucksensoren vorgestellt. Derartige Sensoren kom ...; Erstellt am 15. Januar 2018
41. Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung: (Bauteile); Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung 05. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man ...; Erstellt am 04. Dezember 2017
42. Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs: (Bauteile); Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs 21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (D ...; Erstellt am 20. August 2017
43. Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs: (Bauteile); Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs 14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durc ...; Erstellt am 10. August 2017
44. Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen: (Bauteile); Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen 03. August 2017 – Advantest hat seine Wave Scale MX Produktfamilie um eine hochauflösende, hochgenaue Mixed-Signal-Kanalkarte e ...; Erstellt am 02. August 2017
45. Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher: (Bauteile); Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher 30. Juni 2017 – Advantest stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist ...; Erstellt am 28. Juni 2017
46. Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs: (Bauteile); Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs 10. März 2017 – Advantest erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EV ...; Erstellt am 08. März 2017
47. Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung: (Bauteile); Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung 14. Dezember 2016 – Advantest bietet mit dem M4872 einen Pick-and-Place-Handler an, mit dem sich die Produktivität be ...; Erstellt am 13. Dezember 2016
48. Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP): (Bauteile); Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP) 07. November 2016 – Advantest stellt sein neues T2000 AIR System vor. Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Te ...; Erstellt am 05. November 2016
49. electronica 2016: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick: (Allgemein); ... Unternehmen Neuheit Stand Advantest Tester für IoT-Bauteile T2000 AiR A1-565 Advantest Hochgenaue A/D-Wandler-Testlösung für EVA100 System A1-565 ATEcare Manuelle und halb ...; Erstellt am 02. November 2016
50. SSD-Produktionstest für große Stückzahlen: (Bauteile); SSD-Produktionstest für große Stückzahlen 09. August 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem MPT3000HVM System eine neue Plattform für den Test von SATA-, SAS- und PCIe-Halbleiterspeichern (SSDs) vor ...; Erstellt am 08. August 2016

Hauptmenü

News-Bereich

Info-Bereich

Weblinks

Schwerpunkt

Top 5 News der letzten 30 Tage

Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Tag Cloud