Top 5 News der letzten 30 Tage
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1.
Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest ...
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(Bauteile)
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Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest
08. Januar 2019 – Advantest Corporation hat die Übernahme des Halbleiter System Level Test Geschäfts von Astronics Corporation fü ...
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Erstellt am 08. Januar 2019
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2.
Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen ...
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(Bauteile)
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Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen
23. Mai 2017 – Advantest Europe GmbH und Nash Technologies GmbH geben eine strategische Zusammenarbeit bei der Entwicklung ...
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Erstellt am 19. Mai 2017
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3.
bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest ...
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(Bauteile)
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bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest
08. Juli 2016 - Advantest und die die bsw TestSystems & Consulting mit Sitz in Sindelfingen haben eine Vertriebskooperation für das ne ...
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Erstellt am 07. Juli 2016
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4.
Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform ...
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(Bauteile)
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Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform
06. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 Enhanced Device Power Supply 150A (DPS150AE) Modul vorgestellt. Mit diesem kann die T2000-Testplattform ...
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Erstellt am 06. August 2014
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5.
Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen ...
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(Bauteile)
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Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen
20. Juni 2014 - Advantest wurde bei der jährlichen Kundenzufriedenheitsanalyse von VLSIresearch zum 26. Mal in Folge in die 10 BEST L ...
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Erstellt am 20. Juni 2014
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6.
Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor ...
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(Bauteile)
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Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor
08. Oktober 2013 - Advantest Europe, meldet, dass das Unternehmen der europäische Kooperationspartner von CloudTestingTM Service s ...
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Erstellt am 08. Oktober 2013
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7.
Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor ...
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(Bauteile)
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Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor
04. Juli 2013 - Advantest stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) ...
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Erstellt am 04. Juli 2013
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8.
Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit ...
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(Bauteile)
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Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit
01. Juli 2013 - Advantest gehört laut einer Kundenbefragung durch VLSIresearch erneut zu den weltweit 10 BEST Suppliers in 2 ...
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Erstellt am 01. Juli 2013
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9.
Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI ...
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(Bauteile)
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Advantest sichert sich Lösung für Testautomatisierung durch Übernahme von W2BI
24. Mai 2013 - Advantest und das US-amerikanische Unternehmen w2bi.com haben die Übernahme von W2BI durch Advantest ver ...
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Erstellt am 24. Mai 2013
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10.
Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein ...
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(Bauteile)
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Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein
17. April 2013 - Advantest ist in den schnell wachsenden Tester-Markt für MEMS-basierte Sensoren (Mikro-elektromechanische Systeme) eingestiegen. An v ...
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Erstellt am 17. April 2013
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11.
Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service ...
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(Bauteile)
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Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service
10. Oktober 2012 – Advantest hat eine neue Tochtergesellschaft für den Vertrieb seines CloudTesting Service gegründet hat, die Tes ...
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Erstellt am 10. Oktober 2012
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12.
Advantest liefert 500. V93000 Port Scale RF-Tester aus ...
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(Kurznachrichten)
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13. August 2012 – Advantest hat das 500ste V93000 Port Scale RF-Testsystem installiert. Das System geht in das Entwicklungslabor von Spreadtrum Communications (Shanghai), Co., Ltd., einem Fabless-Halbleiterunternehmen, ...
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Erstellt am 13. August 2012
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13.
Advantest startet im Herbst CloudTesting Service ...
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(Bauteile)
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Advantest startet im Herbst CloudTesting Service
04. Juli 2012 – Advantest wird im Herbst 2012 eine neue Testlösung namens CloudTesting Service (CTS) vorstellen, welche auf der Basis der Cloud-Computing-Technologie ...
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Erstellt am 04. Juli 2012
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14.
Advantest liefert innerhalb der ersten 10 Monate bereits hundertstes V93000 Smart Scale System aus ...
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(Kurznachrichten)
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26. Juni 2012 – Nur zehn Monate nach der Vorstellung der neuen Smart Scale Tester-Generation hat die Advantest Corporation bereits das hundertste V93000 Smart Scale System ausgeliefert. Die Systeme dieser ...
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Erstellt am 26. Juni 2012
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15.
Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an ...
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(Bauteile)
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Advantest kündigt 3D TSV Stack-Testlösungen an
12. Juni 2012 – Advantest Corporation entwickelt eine neue Produktlinie von vollautomatischen und integrierten Test- und Handling-Lösungen für TSV-basierte (Th ...
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Erstellt am 12. Juni 2012
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16.
Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit ...
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(Bauteile)
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Advantest erhält Spitzenbewertung bei Kundenzufriedenheit
25. Mai 2012 – Advantest wurde bei der jährlichen Customer Satisfaction Survey des unabhängigen Marktforschers VLSI Research von den Kunden al ...
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Erstellt am 25. Mai 2012
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17.
Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab ...
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(Bauteile)
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Advantest schließt weltweite Integration von Verigy ab
04. April 2012 – Advantest Corporation meldet den erfolgreichen Abschluss der Integration der im Juli 2011 übernommen Firma Verigy Ltd. Inzwischen w ...
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Erstellt am 04. April 2012
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18.
Advantest installiert tausendstes T2000 Testsystem ...
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(Kurznachrichten)
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22. Dezember 2011 - Advantest hat bei einem Hersteller von integrierten Halbleiterprodukten für die Computer- und Kommunikationstechnik das tausendste T2000 Testsystem installiert. Das System wird wie ...
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Erstellt am 22. Dezember 2011
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19.
Verigy Aktionäre stimmen für Übernahme durch Advantest ...
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(Kurznachrichten)
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21. Juni 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. melden, dass die Aktionäre von Verigy der geplanten Übernahme von Verigy durch Advantest zugestimmt haben. Advantest wird somit alle ausgegebenen S ...
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Erstellt am 21. Juni 2011
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20.
Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen ...
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(Bauteile)
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Übernahme von Verigy durch Advantest nun beschlossen
30. März 2011 - Advantest Corporation und Verigy Ltd. haben eine Übernahme-Vereinbarung geschlossen, nach der Advantest seinen Mitbewerber Verigy fü ...
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Erstellt am 30. März 2011
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21.
Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000 ...
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(Bauteile)
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Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000
08. Dezember 2010 - Advantest hat drei neue Module und die Infrastruktur-Erweiterung Enhanced Performance Package (EPP) für die SOC-Testplattform T2000 vorgestellt. ...
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Erstellt am 08. Dezember 2010
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22.
Advantest will Verigy übernehmen ...
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(Kurznachrichten)
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08. Dezember 2010 - Verigy, ein amerikanischer Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat bekanntgegeben, dass das Unternehmen ein Übernahmeangebot des Mitbewerbers Advantest erhalten hat. Erst im November ...
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Erstellt am 08. Dezember 2010
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23.
Advantest zum 22. Mal in Folge unter den 10 BEST ...
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(Kurznachrichten)
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25. Mai 2010 - Advantest hat es in der jährlichen Kundenzufriedenheitsstudie von VLSI Research zum 22. Mal in Folge unter die 10 BEST geschafft. Das Unternehmen erreichte im Bereich Chip-Fertigungsanlagen ...
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Erstellt am 25. Mai 2010
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24.
Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken ...
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(Bauteile)
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Advantest vertreibt CD-SEM-Messsystem für Fotomasken
08. Januar 2010 - Advantest Europe GmbH stellt mit dem E3610/E3620 ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken vor. D ...
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Erstellt am 08. Januar 2010
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25.
Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte ...
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(Allgemein)
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Advantest zielt mit Terahertz-Messtechnik auf neue Märkte
25. September 2009 - Advantest Corporation hat ein Terahertz (THz = 1012 Hz) Imaging System entwickelt und adressiert den Markt für zerstörungsfreie 3D ...
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Erstellt am 25. September 2009
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26.
Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem T5503 vor ...
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(Bauteile)
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Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor
3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen ...
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Erstellt am 03. Juni 2009
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27.
Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern ...
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(Bauteile)
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Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern
28. Mai 2009 - Advantest Corporation gehört laut der in jedem Jahr vom Marktforschungsunternehmen VLSI Research Inc. durchgeführten Un ...
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Erstellt am 29. Mai 2009
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28.
Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest ...
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(Bauteile)
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Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest
08. Mai 2009 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleitertestsystemen und ELMOS Semiconductor AG, ein Anbieter von Automotive-Halbleitern, ...
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Erstellt am 08. Mai 2009
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29.
Advantest stellt neues Memory Test System vor ...
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(Bauteile)
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Advantest stellt neues Memory Test System vor
20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und ...
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Erstellt am 23. November 2008
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30.
Test von Hochspannungs-ICs
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(Bauteile)
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Test von Hochspannungs-ICs
14. Dezember 2018 – Advantest hat ein neues Modul für sein EVA100 Messsystem eingeführt, welches Prüfungen von Hochspannung-ICs für volumenstarke Verbraucheranwendungen erm ...
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Erstellt am 14. Dezember 2018
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31.
Konvertierungssoftware für Halbleiter-Testpattern
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(Bauteile)
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... nd Advantest CloudTesting ServiceTM (CTS), Entwickler des ersten On-Demand Testservices für die Halbleiterindustrie, kündigen ein neues Softwaremodul zur Konvertierung von EDA Formaten (Electronic Design Au ...
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Erstellt am 05. Dezember 2018
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32.
Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs
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(Bauteile)
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Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs
13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die ...
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Erstellt am 13. November 2018
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33.
electronica 2018: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick (2)
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(Allgemein)
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... t mit Thermoelement
A3.607
XJTAG
Neue JTAG-Programmiersoftware v3.8
A3.470
Bauteiltest
Unternehmen
Neuheit
Stand
Advantest
FVI 16 Floating Power VI-Quelle für V93 ...
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Erstellt am 12. November 2018
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34.
Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher
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(Bauteile)
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Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher
02. November 2018 – Advantest Corporation hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern auf den Markt gebracht. Die neuen Modelle ...
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Erstellt am 02. November 2018
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35.
Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine
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(Bauteile)
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Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine
19. Oktober 2018 – Advantest präsentiert die nächste Generation seiner B6700D Memory Burn-In Tester. Durch Messung der Funktionen von NAND Fl ...
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Erstellt am 19. Oktober 2018
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36.
Test von Power-ICs für Automobil-, Industrie- und Consumer-Anwendungen
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(Bauteile)
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Test von Power-ICs für Automobil-, Industrie- und Consumer-Anwendungen
11. Mai 2018 – Advantest erweitert das Produktportfolio seiner skalierbaren Testplattform V93000 mit der Floating Power VI Quelle ...
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Erstellt am 07. Mai 2018
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37.
High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs
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(Bauteile)
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High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs
11. April 2018 – Advantest hat seinen T5503HS2 Memory Tester vorgestellt. Die produktivste Testlösung der Branche ist sowohl für die schnellsten aktuellen Sp ...
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Erstellt am 09. April 2018
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38.
Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter
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(Bauteile)
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Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter
30. Januar 2018 – Advantest hat zwei neue Module für sein T2000 IPS System vorgestellt. Diese ermöglichen den Test von Hochspannungs- und Hochleistungs-Bauteilen, di ...
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Erstellt am 29. Januar 2018
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39.
Testzelle für Differenzdrucksensoren
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(Bauteile)
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Testzelle für Differenzdrucksensoren
17. Januar 2018 – Advantest hat mit der Stimulus-Testzelle HA7300 eine leistungsfähige Lösung zur Prüfung von Differenzdrucksensoren vorgestellt. Derartige Sensoren kom ...
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Erstellt am 15. Januar 2018
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40.
Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung
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(Bauteile)
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Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung
05. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man ...
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Erstellt am 04. Dezember 2017
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41.
Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs
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(Bauteile)
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Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs
21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (D ...
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Erstellt am 20. August 2017
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42.
Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs
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(Bauteile)
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Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs
14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durc ...
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Erstellt am 10. August 2017
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43.
Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen
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(Bauteile)
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Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen
03. August 2017 – Advantest hat seine Wave Scale MX Produktfamilie um eine hochauflösende, hochgenaue Mixed-Signal-Kanalkarte e ...
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Erstellt am 02. August 2017
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44.
Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher
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(Bauteile)
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Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher
30. Juni 2017 – Advantest stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist ...
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Erstellt am 28. Juni 2017
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45.
Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs
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(Bauteile)
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Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs
10. März 2017 – Advantest erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EV ...
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Erstellt am 08. März 2017
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46.
Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung
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(Bauteile)
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Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung
14. Dezember 2016 – Advantest bietet mit dem M4872 einen Pick-and-Place-Handler an, mit dem sich die Produktivität be ...
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Erstellt am 13. Dezember 2016
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47.
Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP)
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(Bauteile)
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Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP)
07. November 2016 – Advantest stellt sein neues T2000 AIR System vor. Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Te ...
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Erstellt am 05. November 2016
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48.
electronica 2016: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick
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(Allgemein)
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Unternehmen
Neuheit
Stand
Advantest
Tester für IoT-Bauteile T2000 AiR
A1-565
Advantest
Hochgenaue A/D-Wandler-Testlösung für EVA100 System
A1-565
ATEcare
Manuelle und halb ...
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Erstellt am 02. November 2016
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49.
SSD-Produktionstest für große Stückzahlen
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(Bauteile)
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SSD-Produktionstest für große Stückzahlen
09. August 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem MPT3000HVM System eine neue Plattform für den Test von SATA-, SAS- und PCIe-Halbleiterspeichern (SSDs) vor ...
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Erstellt am 08. August 2016
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50.
Test von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität
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(Bauteile)
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Test von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität
14. Juli 2016 – Advantest hat die Wave Scale Karten für die V93000 Plattform vorgestellt, die sich durch einen höchsten Durchsatz beim Test vo ...
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Erstellt am 13. Juli 2016
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