All-about-Test

1. High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs: (Bauteile); High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs 11. April 2018 – Advantest hat seinen T5503HS2 Memory Tester vorgestellt. Die produktivste Testlösung der Branche ist sowohl für die schnellsten aktuellen Sp ...; Erstellt am 09. April 2018
2. Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter: (Bauteile); Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter 30. Januar 2018 – Advantest hat zwei neue Module für sein T2000 IPS System vorgestellt. Diese ermöglichen den Test von Hochspannungs- und Hochleistungs-Bauteilen, di ...; Erstellt am 29. Januar 2018
3. Testzelle für Differenzdrucksensoren: (Bauteile); Testzelle für Differenzdrucksensoren 17. Januar 2018 – Advantest hat mit der Stimulus-Testzelle HA7300 eine leistungsfähige Lösung zur Prüfung von Differenzdrucksensoren vorgestellt. Derartige Sensoren kom ...; Erstellt am 15. Januar 2018
4. Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung: (Bauteile); Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung 05. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man ...; Erstellt am 04. Dezember 2017
5. Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs: (Bauteile); Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs 21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (D ...; Erstellt am 20. August 2017
6. Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs: (Bauteile); Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs 14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durc ...; Erstellt am 10. August 2017
7. Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen: (Bauteile); Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen 03. August 2017 – Advantest hat seine Wave Scale MX Produktfamilie um eine hochauflösende, hochgenaue Mixed-Signal-Kanalkarte e ...; Erstellt am 02. August 2017
8. Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher: (Bauteile); Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher 30. Juni 2017 – Advantest stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist ...; Erstellt am 28. Juni 2017
9. Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen ...: (Bauteile); Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen 23. Mai 2017 – Advantest Europe GmbH und Nash Technologies GmbH geben eine strategische Zusammenarbeit bei der Entwicklung ...; Erstellt am 19. Mai 2017
10. Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs: (Bauteile); Test von hochauflösenden und Hochgeschwindigkeits-ICs 10. März 2017 – Advantest erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EV ...; Erstellt am 08. März 2017
11. Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung: (Bauteile); Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung 14. Dezember 2016 – Advantest bietet mit dem M4872 einen Pick-and-Place-Handler an, mit dem sich die Produktivität be ...; Erstellt am 13. Dezember 2016
12. Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP): (Bauteile); Test von hochintegrierten Modulen und System-in-Package-Bauteilen (SiP) 07. November 2016 – Advantest stellt sein neues T2000 AIR System vor. Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Te ...; Erstellt am 05. November 2016
13. electronica 2016: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick: (Allgemein); ... Unternehmen Neuheit Stand Advantest Tester für IoT-Bauteile T2000 AiR A1-565 Advantest Hochgenaue A/D-Wandler-Testlösung für EVA100 System A1-565 ATEcare Manuelle und halb ...; Erstellt am 02. November 2016
14. SSD-Produktionstest für große Stückzahlen: (Bauteile); SSD-Produktionstest für große Stückzahlen 09. August 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem MPT3000HVM System eine neue Plattform für den Test von SATA-, SAS- und PCIe-Halbleiterspeichern (SSDs) vor ...; Erstellt am 08. August 2016
15. Test von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität: (Bauteile); Test von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität 14. Juli 2016 – Advantest hat die Wave Scale Karten für die V93000 Plattform vorgestellt, die sich durch einen höchsten Durchsatz beim Test vo ...; Erstellt am 13. Juli 2016
16. bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest ...: (Bauteile); bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest 08. Juli 2016 - Advantest und die die bsw TestSystems & Consulting mit Sitz in Sindelfingen haben eine Vertriebskooperation für das ne ...; Erstellt am 07. Juli 2016
17. Die-Handling-System für KGD-Sortierung: (Bauteile); Die-Handling-System für KGD-Sortierung 09. Juni 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem neuen Die-Handler HA1000 eine kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC- ...; Erstellt am 08. Juni 2016
18. Pickering Interfaces erweitert Vertriebsteam in Deutschland: (Allgemein); ... rtestbranche arbeitete Herr Finkenzeller in führenden Positionen u.a. bei Teradyne und Advantest. www.pickeringtest.com/ ...; Erstellt am 20. April 2016
19. Universelles analoges Pin-Modul für den Bauteiltest: (Bauteile); Universelles analoges Pin-Modul für den Bauteiltest 11. März 2016 – Advantest Corporation hat mit der Auslieferung des neuen DC Scale AVI64 Moduls begonnen. Die skalierbare V93000 Plattform bietet d ...; Erstellt am 08. März 2016
20. Hochparallele IC-Tests mit neuem Performance-Board: (Bauteile); Hochparallele IC-Tests mit neuem Performance-Board 21. Januar 2016 – Advantest ermöglicht mit der neuen RECT550EX HIFIX (High-Fidelity Test Access Fixture) Einheit die Durchführung hoch paralleler T ...; Erstellt am 20. Januar 2016
21. Memory Testsystem für UFS- und PCIe BGA SSDs: (Bauteile); Memory Testsystem für UFS- und PCIe BGA SSDs 15. Januar 2016 – Advantest stellt mit dem T5851 System eine kostengünstige Testlösung für leistungsfähige UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und PCIe ...; Erstellt am 14. Januar 2016
22. Temperatur- und Druck-Stimulus für Test von Drucksensoren: (Bauteile); Temperatur- und Druck-Stimulus für Test von Drucksensoren 21. Dezember 2015 – Advantest stellt die Temperatur- und Druck-Stimulus-Einheit HA7200 vor. Diese wurde speziell für eine genaue Temperatur- u ...; Erstellt am 20. Dezember 2015
23. Kompakter Halbleitertester für digitale ICs: (Bauteile); Kompakter Halbleitertester für digitale ICs 11. Dezember 2015 - Advantest stellt mit der EVA100 Digital Solution das neuste Produkt der wachsenden EVA100 Messsystem-Familie vor. Das System eignet sich ...; Erstellt am 09. Dezember 2015
24. Produktionstester für Sensoren, Analog- und Mixed-Signal-ICs: (Bauteile); Produktionstester für Sensoren, Analog- und Mixed-Signal-ICs 09. November 2015 – Advantest stellt ein Produktionstest-Modell seines EVA100 Messsystems vor. Das System wurde speziell für die Serienproduktion v ...; Erstellt am 09. November 2015
25. Terahertz-Analyse-System für hochauflösende Fehlererkennung in ICs: (Bauteile); Terahertz-Analyse-System für hochauflösende Fehlererkennung in ICs 04. November 2015 – Advantest bietet eine neue TDR-Option für die Terahertz-Analyse-Systeme der Serie TS9000 an. Mit Hilfe von kurzen Te ...; Erstellt am 02. November 2015
26. productronica 2015: Neuheiten im Überblick (aktualisiert): (Allgemein); ... Terahertz-Analysesystem TS9000 TDR Option Advantest A1.140 Halbleitertest PXI-basierter Halbleitertester TS-960 LXInstruments A1.345 Baugruppentest justierbarer Nadelbettadapter, Le ...; Erstellt am 27. Oktober 2015
27. Test von Speicher-ICs mit Datenraten von bis zu 16 Gbps: (Bauteile); Test von Speicher-ICs mit Datenraten von bis zu 16 Gbps 24. August 2015 – Advantest hat mit der HSM16G die bisher schnellste voll integrierte Memory-Testkarte vorgestellt. Die neue Karte erweitert die ...; Erstellt am 24. August 2015
28. Flexible und erweiterbare SSD-Testlösung: (Bauteile); Flexible und erweiterbare SSD-Testlösung 04. August 2015 – Advantest stellt seinen Kunden eine neue Firmware zum Download zur Verfügung, mit der alle MPT3000 Systeme jetzt auch Serial Attached SCSI ( ...; Erstellt am 03. August 2015
29. Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher: (Bauteile); Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher 29. Juni 2015 – Advantest stellt mit dem neuen T5833 System eine kostengünstige Testlösung für die Serienproduktion von Speicherbauteilen vor ...; Erstellt am 29. Juni 2015
30. Integrierte Testlösung für optische Transceiver: (Bauteile); Integrierte Testlösung für optische Transceiver 08. Juni 2015 - Advantest stellt das neue 28G OPM (28 Gigabit Optical Port Module) für die Testplatform T2000 vor, das speziell für den Test von optischen Tra ...; Erstellt am 07. Juni 2015
31. Analyse von Halbleiterschaltungen mittels Terahertz-Technologie: (Bauteile); Analyse von Halbleiterschaltungen mittels Terahertz-Technologie 26. Mai 2015 – Advantest hat eine Technologie zur Analyse von elektrischen Schaltungen auf der Basis von kurzen Terahertz-Impulsen entwickelt. ...; Erstellt am 25. Mai 2015
32. Handler für den Test von Speicher-ICs: (Bauteile); Handler für den Test von Speicher-ICs 02. Dezember 2014 - Advantest stellt den neuen Testhandler M6245 vor, der sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit auszeichnet und ideal für das ...; Erstellt am 02. Dezember 2014
33. Parameter-Messmodul für SoC-Tests: (Bauteile); Parameter-Messmodul für SoC-Tests 26. November 2014 - Advantest hat mit der T2000 PMU32E eine neue universelle Parameter-Messeinheit (PMU) vorgestellt und damit die Testmöglichkeiten der T2000 Plattform b ...; Erstellt am 26. November 2014
34. Testsystem für Display-Treiber-ICs für hochauflösende LCD-Panels: (Bauteile); Testsystem für Display-Treiber-ICs für hochauflösende LCD-Panels 30. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem neuen T6391 eine Testlösung für Display-Treiber-ICs (DDIs) der nächsten Generation vorgestellt. Damit ...; Erstellt am 30. Oktober 2014
35. electronica 2014: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick - Update!: (News); ... nd Mehr Info Advantest Testsystem für Analog-, Mixed-Signal- und Sensor ICs EVA100 A1-435 ATEcare / OMRON Neues 3D AOI System OMRON VT-S730 A1-143 dataTec Neu im Pr ...; Erstellt am 13. Oktober 2014
36. Inspektion von Halbleiter-Gehäusen mit Terahertz-Strahlung: (Bauteile); Inspektion von Halbleiter-Gehäusen mit Terahertz-Strahlung 06. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem TS9000 ein neues Gerät zur Messung der Dicke von Halbleiter-Gehäusen vorgestellt. Das System basiert au ...; Erstellt am 06. Oktober 2014
37. Engineering Teststation für SSDs: (Bauteile); Engineering Teststation für SSDs 13. August 2014 - Advantest erweitert seine MPT3000 Produktfamilie für den Test von Halbleiter-Festplatten (SSDs) mit der flexiblen MPT3000ES Engineering Station. D ...; Erstellt am 13. August 2014
38. Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform ...: (Bauteile); Neue Bauteil-Stromversorgung für Advantest T2000-Testplattform 06. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 Enhanced Device Power Supply 150A (DPS150AE) Modul vorgestellt. Mit diesem kann die T2000-Testplattform ...; Erstellt am 06. August 2014
39. 1,6 Gbps Digitalmodul für Protokolltest bei SoCs: (Bauteile); 1,6 Gbps Digitalmodul für Protokolltest bei SoCs 01. August 2014 - Advantest hat das neue T2000 1.6GDM Digitalmodul vorgestellt, das speziell für hocheffiziente Tests von System-on-Chip (SoC) Bauteilen a ...; Erstellt am 01. August 2014
40. Flexible SSD-Testlösung für Entwicklung und Produktion: (Bauteile); Flexible SSD-Testlösung für Entwicklung und Produktion 29. Juli 2014 - Advantest hat mit dem System MPT3000 das erste Produkt seiner NEO-SSD-Familie für den Test von modernen Halbleiter-Festplatten (S ...; Erstellt am 29. Juli 2014
41. Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen ...: (Bauteile); Advantest gehört erneut zu den Top-Anbietern von IC-Testsystemen 20. Juni 2014 - Advantest wurde bei der jährlichen Kundenzufriedenheitsanalyse von VLSIresearch zum 26. Mal in Folge in die 10 BEST L ...; Erstellt am 20. Juni 2014
42. Testsystem für Analog-, Mixed-Signal- und Sensor-ICs: (Bauteile); Testsystem für Analog-, Mixed-Signal- und Sensor-ICs 03. Juni 2014 - Advantest hat sein neues Messsystem EVA100 vorgestellt. Diese evolutionäre Plattform kombiniert digitale und analoge Testfunktionen u ...; Erstellt am 03. Juni 2014
43. Integrierte Testzelle für MEMS-basierte Reifendruck-Sensoren: (Bauteile); Integrierte Testzelle für MEMS-basierte Reifendruck-Sensoren 21. Mai 2014 - Advantest hat eine voll integrierte Testzelle für die Endprüfung von MEMS-basierten Sensoren installiert. Diese Sensoren ge ...; Erstellt am 21. Mai 2014
44. Skalierbare, kostengünstige Testlösung für eFlash-Halbleiter: (Bauteile); Skalierbare, kostengünstige Testlösung für eFlash-Halbleiter 01. April 2014 - Advantest erweitert die Möglichkeiten seiner V93000 Testplattform mit dem neuen DPS128HV Modul. Dieses enthält eine hoch ...; Erstellt am 01. April 2014
45. Digitale Kanalkarte für den Test von extrem schnellen SerDes-Halbleitern: (Bauteile); Digitale Kanalkarte für den Test von extrem schnellen SerDes-Halbleitern 19. März 2014 - Advantest hat die neue digitale Pin Scale Serial Link (PSSL) Kanalkarte für die At-Speed-Charakterisierung un ...; Erstellt am 19. März 2014
46. Testlösung für DDR4- und LPDDR4-Speicher-Chips: (Bauteile); Testlösung für DDR4- und LPDDR4-Speicher-Chips 13. Februar 2014 - Advantest stellt eine neue Testlösung für Speicher-ICs der nächsten Generation vor, die in aktuellen mobilen Geräten und Servern einge ...; Erstellt am 13. Februar 2014
47. Bildverarbeitungsmodul für den Test von CMOS-Bildsensoren: (Bauteile); Bildverarbeitungsmodul für den Test von CMOS-Bildsensoren 22. Januar 2014 - Advantest präsentiert ein neues Bildverarbeitungsmodul, das eine deutlich kürzere Bildverarbeitungszeit beim Test von CMOS-Bildsensoren mi ...; Erstellt am 22. Januar 2014
48. Test von Powermanagement- und Automotive-ICs: (Bauteile); Test von Powermanagement- und Automotive-ICs 07. Januar 2014 - Advantest stellt ein neues 64-kanaliges, universelles Spannungs-Strom-Modul (VI) für seine T2000 Testplattform vor. Das neue Modul erlaubt ...; Erstellt am 07. Januar 2014
49. Testhandler für SoC-Bauteile mit hoher Produktivität und Flexibilität: (Bauteile); Testhandler für SoC-Bauteile mit hoher Produktivität und Flexibilität 09. Dezember 2013 - Advantest stellt mit dem im Feld erweiterbaren Pick-and-Place-System M4871 seinen neuesten Testhandler für SoC ...; Erstellt am 09. Dezember 2013
50. Untersuchung von Fotomasken-Strukturen für die 1Xnm Technologie: (Bauteile); Untersuchung von Fotomasken-Strukturen für die 1Xnm Technologie 26. November 2013 - Advantest stellt das neue E3640 MVM-SEM System (Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope) zur Messung ...; Erstellt am 26. November 2013

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