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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Messtechnik-Lexikon

Dieses Lexikon enthält insgesamt rund 500 Begriffe und Abkürzungen aus den Bereichen elektronische Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik.
Suche im Glossar (reguläre Ausdrücke sind erlaubt)
Beginnt mit Enthält Genauer BegriffKlingt wie
Begriff Definition
ATAP
Boundary Scan Analog Test Access Port bei IEEE 1149.4 (umfasst zwei Kanäle: AT1 und AT2)
ATE
Automatic Test Equipment – Automatisches Testsystem
ATLAS
Abbreviated Test Language for All Systems – Standard-Testsprache spezifiziert in IEEE Std. 466 und 716
ATML
Automated Test Markup Language (XML based)
ATPG
Automatischer Test Programm Generator – Programm zur automatischen Erstellung von Testprogrammen auf der Basis der Schaltungsbeschreibung
AWGN
Additive White Gaussian Noise - additives weißes gaußsches Rauschen
AXI
Automatische Röntgeninspektion
AXIe
Standard auf der Basis von AdvancedTCA mit Erweiterungen für Test- und Messinstrumente. Siehe www.axiestandard.org
B
Bandbreite
Balun
Anpassglied (BALanced/UNbalanced), das einen unsymmetrischen Anschluss mit einem symmetrischen Anschluss verbindet und dabei die unterschiedlichen Impendanzen anpasst. Baluns werden oftmals auch als Symmetrierglied oder Impedanzwandler bezeichnet. Meist werden hierzu Transformatoren eingesetzt.
BATSO
BATtery Safety Organization - Standard für bessere Verbraucherinformation und mehr Sicherheit bei neuen Batterietechnologien für Elektro-Leichtfahrzeuge. BATSO ist ein Kooperationsprojekt von TÜV Rheinland, des gemeinnützigen Vereins ExtraEnergy, des ITRI-Institutes in Taiwan und der Underwriters Laboratories aus den USA.
BCI
Bulk Current Injection (Test) – Strominjektionstest (EMV)
BER
Bit Error Rate - Bitfehlerrate
BERT
Bit Error Rate Test - Bit-Fehlerratentest
BIP
Bit Parity Check - Paritätsprüfung
BIPM
Bureau International des Poids et Mesures (International Bureau of Weights and Measures) - Internationales Büro für Maße und Gewichte
BIST
Built-in Self Test
BIT
Built-in Test – Integrierte Testfunktion
Bit Error Rate
Verhältnis der fehlerhaft empfangenen Bits im Verhältnis zu den insgesamt gesendeten Bits. Abkürzung: BER
BITE
Built-in Test Equipment – Integrierte Testfunktion


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