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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Messtechnik-Lexikon

Dieses Lexikon enthält insgesamt rund 500 Begriffe und Abkürzungen aus den Bereichen elektronische Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik.
Suche im Glossar (reguläre Ausdrücke sind erlaubt)
Beginnt mit Enthält Genauer BegriffKlingt wie
Begriff Definition
fA
Femtoampere
FAR
Fully Anechoic Room
FCMV
Force Current, Measure Voltage – Strom einspeisen, Spannung messen
FDTD
Finite Difference Time Domain
Federkontaktstift
Kontaktierungselement für den Test von Leiterplatten, elektronischen Baugruppen und Bauteilen. Nadelbettadaptern für einen In-Circuit-Test enthalten oftmals mehrere Hundert Federkontaktstifte.
FEXT
Far-end Crosstalk - Fernnebensprechen
FF
Fill Factor (solar cell) - Füllfaktor (Solarzelle) > siehe Füllfaktor
FFP
Far Field Pattern- Fernfeldstrahlungsmuster
FIB
Focused Ion Beam - fokussierter Ionenstrahl
FIR
Finite Impulse Response
FIT
Fault Isolation Test - Fehlereingrenzungstest
FIU
Fault Insertion Unit
Flying Probe Test
Testverfahren für Leiterplatten und elektronische Baugruppen, wobei die Kontaktierung mittels beweglicher Testnadeln erfolgt
FPT
Flying Probe Test
FS
Full Scale - Vollausschlag
FSR
Full Scale Range - Vollausschlag
FT
Funktionstest
FTIR
Fourier Transformed Infrared Spectroscopy
Füllfaktor
Quotient aus der maximalen Leistung einer Solarzelle am Maximum Power Point (MPP) und dem Produkt aus Leerlaufspannung und Kurzschlussstrom. (engl. fill factor)
Funktionstest
Funktionelle Prüfung einer elektronischen Baugruppe. Die Kontaktierung erfolgt meist über vorhandene Steckerleisten oder einen Nadelbettadapter


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