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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Messtechnik-Lexikon

Dieses Lexikon enthält insgesamt rund 500 Begriffe und Abkürzungen aus den Bereichen elektronische Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik.
Suche im Glossar (reguläre Ausdrücke sind erlaubt)
Beginnt mit Enthält Genauer BegriffKlingt wie
Begriff Definition
SINAD
Signal to Noise plus Distrotion - Signalabstand zu Rausch- und Störsignalen
SIR
Surface Insulation Resistance - Oberflächen-Isolationswiderstand
SIV
Stress Induced Voiding
SJTAG
System-level JTAG (Boundary Scan)
SLAM
Scanning Laser Acoustic Microscope
SMART
Standard Module Avionic Repair and Test - Test und Reparatur von Standardmodulen für die Luftfahrt
SMU
Source-Measure-Unit – Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter
SNR
Signal-to-Noise Ratio - Signal-Rausch-Abstand
SOLT
Short Open Load Through
Source-Measure-Unit
Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter
SPI
Solder Paste Inspection - Lotpasten-Inspektion
SPL
Sound Pressure Level - Schalldruckpegel
SPM
Scanning Probe Microscope – Rastersondenmikroskop
SPS
Standard Positioning Service (GPS)
SSH
Simulataneous Sample and Hold - Simultane Abtastung und Zwischenspeicherung
Standard Test Data Format
Binäres Datenformat zur Speicherung von Messdaten beim Test von Halbleitern. Wurde ursprünglich von Teradyne entwickelt, wird aber inzwischen auch von anderen ATE-Anbietern unterstützt.
STC
Semiconductor Test Consortium Das Semiconductor Test Consortium (STC) ist eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung offener Teststandards (z.B. OpenStar) in der Halbleiterindustrie. Das STC wurde im Jahr 2003 gegründet und Anfang 2009 wieder aufgelöst. Die bis dahin erarbeiteten Standards wurden an die Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI) übergeben. Die Marke OpenStar wurde an das Unternehmen Advantest Corp. übergeben.
STDF
Standard Test Data Format
STEM
Scanning Transmission Electron Microscope - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop
STEP
Simple Transition Electronic Processing


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