Messung dielektrischer Materialeigenschaften

11. Februar 2026 - Das Einrichten und der Aufbau von Versuchsaufbauten für dielektrische Materialmessungen im Millimeterwellen- und Terahertz-Bereich ist nicht nur eine zeitraubende, sondern auch komplexe Aufgabe. Das Materialcharakterisierungs-Kit (MCK) von Telemeter soll hier Abhilfe schaffen. Das MCK wurde entwickelt, um derartige Messprozesse zu vereinfachen und zu beschleunigen. Aufwendige Vorbereitungen und Justierungen, die bei herkömmlichen Freiraum-Messmethoden nötig sind, werden nicht mehr benötigt.

Die wichtigsten Vorteile des MCK sind:

• Keine Probenvorbereitung: Im Gegensatz zu vielen anderen Techniken ist in vielen Fällen keine spezielle Probenpräparation erforderlich. Einfach die festen, weichen, flüssigen oder pulverförmigen Proben in das Kit einsetzen.
• Intuitive Bedienung: Dank seines selbstausrichtenden Designs ist der Aufbau denkbar einfach.
• Blitzschnelle Kalibrierung: Wenige Klicks, ersetzt langwierige Prozesse.
• Messen mit einem Klick: Nach der schnellen Kalibrierung ist die Messung der Probe nur noch einen Klick entfernt.

Das MCK kann nahtlos mit den meisten konventionellen Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNAs) zusammenarbeiten, die den geforderten Frequenzbereich unterstützen und eine Zeitbereichs-Erweiterung enthalten (wie z.B. der A2202-DFx von Copper Mountain).

Die Kerninnovation des MCK liegt in der leistungsstarken, browserbasierten Software (platformunabhängig). Diese steuert den VNA direkt für schnelle Datenerfassung und nutzt fortschrittliche, spezialisierte Algorithmen zur Ermittlung der Materialeigenschaften.

Erhältlich sind unterschiedliche Varianten in einem Frequenzspektrum von 25 GHz bis zu 1100 GHz.

www.telemeter.info/