Design- und Validierungslösung für LPDDR6-Speicher

29. Januar 2025 – Keysight Technologies hat eine komplette Design- und Testlösung für LPDDR6 (Low-Power Double Data Rate 6) vorgestellt, welche die nächste Technologiegeneration der Speichersysteme unterstützt. Die Lösung verbessert die Baustein- und Systemvalidierung erheblich und bietet neue Werkzeuge für die Testautomatisierung, die für die Weiterentwicklung von KI erforderlich sind, insbesondere bei mobilen und Edge-Geräten.

Die Testkomplexität hat mit der Einführung von Speicherbausteinen der nächsten Generation wie LPDDR6, HBM4 und GDDR7 zugenommen. Diese Technologien erfordern fortschrittliche Testmethoden, um Zuverlässigkeit und Leistung zu gewährleisten, und die Verkürzung der Testzeiten bei gleichzeitiger Beibehaltung der Genauigkeit ist eine ständige Herausforderung.

Die Workflow-Komplettlösung von Keysight besteht aus Sender- und Empfängertestanwendungen und der Advanced Design System (ADS) Memory Designer Workflow-Lösung. In Kombination mit der Keysight EDA-Software und dem Keysight Memory Designer-Paket kann die LPDDR6-Testlösung eine schnellere Designsicherheit von der Simulation bis zur Verifikation und zum Test erreichen. Die LPDDR6-Testautomatisierungslösung basiert auf dem UXR-Oszilloskop und dem leistungsstarken Bit Error Ratio Tester M8040A von Keysight.

Es wird erwartet, dass die Auswirkungen von LPDDR6 über Mobilgeräte hinausgehen werden. Die Kombination aus hoher Leistung und Energieeffizienz des neuen Speicherstandards macht ihn besonders geeignet für KI- und Machine-Learning-Anwendungen, High-Speed-Digital-Computing, Automobilsysteme, Rechenzentren und andere Edge-Anwendungsbereiche, in denen das ausgewogene Verhältnis zwischen Rechenleistung und Energieverbrauch entscheidend ist.

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