Dynamische Bare-Chip-Tests von Wide-Bandgap-Leistungshalbleitern
16. April 2025 – Keysight Technologies hat sein Portfolio für Doppelpulstests erweitert, was genaue und einfache Messung der dynamischen Eigenschaften von ungehäusten Wide-Bandgap (WBG) Leistungshalbleiter-Chips ermöglicht. Die in der Messvorrichtung implementierten Technologien minimieren parasitäre Effekte und erfordern kein Anlöten des Bare Chips. Die Halterungen sind mit beiden Versionen der Doppelpulstester von Keysight kompatibel.
WBG-Leistungsbauteile sind entscheidend für den Aufbau hocheffizienter und robuster Leistungselektronik für Anwendungen wie Elektrofahrzeuge, alternative Energien und Rechenzentren. Sie werden in verschiedenen Formen verwendet, z. B. als diskrete, gehäuste Bauteile oder als Leistungsmodule, die ungehäuste Leistungshalbleiter-Chips enthalten. Die Charakterisierung des Bare Chips vor dem Packaging beschleunigt die Entwicklung. Die Messung der dynamischen Eigenschaften eines ungehäusten Leistungshalbleiter-Chips mit herkömmlichen Methoden erfordert jedoch das direkte Auflöten des Bare Chips, bevor Tests durchgeführt werden können. Das ist nicht nur schwierig, sondern kann auch zu parasitären Effekten führen, die wiederum Fehler in die Messungen einbringen.
Die neue Keysight-Lösung für die dynamische Messung von nackten Chips unterstützt Entwickler von Leistungshalbleiter-Bauteilen und Leistungselektronik bei der dynamischen Charakterisierung, sobald ein Chip aus einem Wafer herausgetrennt wird. Das innovative Design der Halterung ermöglicht eine schnelle Aufnahme von Bare Chips und bietet ausreichenden elektrischen Kontakt, während gleichzeitig verhindert wird, dass ein kleiner und empfindlicher Bare Chip einen Lichtbogen schlägt oder beschädigt wird. Die einzigartige Struktur der Halterung, die ohne Tastköpfe, Drahtbonding oder Löten auskommt, minimiert parasitäre Effekte in der Testschaltung und erzeugt saubere Signale für schnell arbeitende WBG-Leistungshalbleiter-Bauteile.
Thomas Götzl, Vice President und General Manager für Keysight Automotive & Energy Solutions, sagte: „Mit der Einführung der neuen WBG-Halbleiter-Bare-Chip-Evaluierungsmethode helfen wir der Industrie, die Entwicklung von hocheffizienten und robusten diskreten Leistungshalbleiter-Bauteilen und Leistungsmodulen zu beschleunigen. Die dynamische Charakterisierung von Bare-Chip-Halbleitern, die früher als fast unmöglich galt, ist jetzt mit der Erweiterung unseres Leistungshalbleiter-Testportfolios möglich.“
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