Luftgekühlte SoC- und Power-Analog-Testlösung
17. Dezember 2025 – Advantest stellt den T2000 AiR2X vor, ein luftgekühltes Testsystem der nächsten Generation, das entwickelt wurde, um die steigende Nachfrage nach kompakten, kosteneffizienten Testern in Evaluierungs- und High-Mix-/Low-Volume-Produktionsumgebungen zu erfüllen. Die neue Lösung ist vollständig kompatibel mit dem herkömmlichen T2000-Testsystem und bietet doppelt so viele Testressourcen wie das bisherige luftgekühlte T2000 AiR-Testsystem, bei gleichbleibend niedrigem Energieverbrauch und Luftkühlungsanforderungen.
„Unser kompakter, luftgekühlter T2000 AiR2X und der hochintegrierte, kanaldichte V93000 schaffen eine einheitliche Testlösung, die das gesamte Spektrum von SoCs abdeckt – von luftgekühlten Segmenten bis hin zu fortschrittlichen, digitalreichen Bausteinen“, sagte Toshiaki Adachi, Leiter der T2000 Produktgruppe bei Advantest. „Der T2000 steigert die Bereitstellungseffizienz, erleichtert die Migration von älteren Testern und verdoppelt die Ressourcenkapazität pro Fläche, während der V93000 die Leistung für fortschrittliche, komplexe SoCs liefert. Zusammen reduziert dieses ergänzende Paar die SoC-Bereitstellungskosten und die Umweltbelastung – von der Evaluierung bis zur Massenproduktion – und bietet umfassende Lösungen zur Förderung der Kundeninnovation.“
Mit seiner flexiblen Messkonfiguration unterstützt der T2000 AiR2X bis zu 12 Messmodule, darunter Funktions-/SCAN-Tests, hochpräzise DC-Tests und DC-Tests für Automobilgeräte bis zu 320 V. Die einzigartige Multisite-Controller-Funktion des Systems reduziert die Testzeit während der Serienproduktion erheblich.
Der T2000 AiR2X integriert die T2000 RECT550-Performance-Platine von Advantest, die eine breite Palette von Konfigurationen flexibel unterstützt, zusammen mit einer einheitlichen Support-Infrastruktur und erweiterbaren Moduloptionen, wobei die gleiche Programmumgebung wie beim T2000 verwendet wird. Darüber hinaus reduziert das Rapid Development Kit (RDK) den Aufwand für die Programmerstellung und das Debugging erheblich und trägt zu kürzeren Migrations- und Implementierungszeiten bei.
Erste Chipprüfungen laufen bereits und bestätigen die breite Anwendungsabdeckung des T2000 AiR2X für industrielle MCUs, Consumer-ASICs, Batterieüberwachungs-ICs für Automobil- und Mobilgeräte sowie Power-Analog-Anwendungen. Das System wird später in diesem Monat allgemein verfügbar sein.
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