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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Schneller PXI-Digitizer mit 10 Bit Auflösung als Oszilloskop-Ersatz04. März 2013 – National Instruments stellt den Digitizer NI PXIe-5162 und die aktualisierte Version des NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit vor. Dank einer vertikalen Auflösung von 10 Bit und einer Sample-Rate von 5 GS/s können mit dem Digitizer sehr schnelle Messungen mit der vierfachen vertikalen Auflösung gegenüber einem 8-Bit-Oszilloskop durchgeführt werden. Durch die Bandbreite von 1,5 GHz sowie vier Kanäle in nur einem Steckplatz ist der NI PXIe-5162 ideal für Digitizer-Systeme mit hoher Kanalanzahl im Fertigungstest, in der Forschung und der Charakterisierung geeignet. Der Digitizer kann mit NI LabVIEW und dem LabVIEW Jitter Analysis Toolkit eingesetzt werden und enthält eine Bibliothek mit Funktionen speziell für Messungen mit hohem Durchsatz, automatische Jitter-Messungen, Augendiagramme und Phasenrauschmessungen. Das Toolkit ist daher für den Einsatz in automatisierten Validierungs- und Produktionsprüfsystemen geeignet. „Die Kombination aus Messungen mit hoher Geschwindigkeit, hoher Kanalanzahl und hoher Auflösung, die der Digitizer NI PXIe-5162 bietet, ermöglicht es Anwendern von Stand-alone-Oszilloskopen, im Bereich automatisierte Tests mit modularen Messgeräten der nächsten Generation arbeiten zu können“, erklärt Steve Warntjes, Director of Modular Instruments Research and Development bei National Instruments. Eigenschaften des NI PXIe-5162 Vertikale Auflösung von 10 Bit für einen genaueren Überblick über das Signal Vier Kanäle in einem 3-HE-PXI-Express-Steckplatz und bis zu 68 Kanäle in einem PXI-Chassis Maximale Sample-Rate von 5GS/s auf einem Kanal bzw. 1,25 GS/s auf vier Kanälen gleichzeitig Funktionen des LabVIEW Jitter Analysis Toolkit Integrierte Funktionen für Taktwiederherstellung, Augendiagramme, Jitter-, Pegel- und Timing-Messungen Beispielprogramme für Augendiagramme und Maskentests sowie die Trennung zufälligen/deterministischen Jitters mit Dual-Dirac- und spektrumbasierten Trennmethoden Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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