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Top 5 News der letzten 30 Tage
- 24. Juli 2017 - Leistungsmessgerät für 6-phasige elektrische Antriebe und Inverter
- 24. Juli 2017 - Satellitenübertragung via DVB-S2 und DVB-S2X testen
- 26. Juli 2017 - Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern
- 26. Juli 2017 - Hochleistungs-Signalanalysator für 5G- und Breitband-Signale
- 29. Juli 2017 - CETECOM führt nun auch Ultra Breitband Prüfungen durch
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Rohde & Schwarz erweitert deutsches Distributionsnetz mit Batronix
22. August 2017 - Die Value-Instruments-Produkte von Rohde & Schwarz sind künftig auch bei Batronix Elektronik erhältlich. Speziell für diese Labormesstechnik der unteren Preisklasse baut Rohde & Schwarz derzeit sein Distributoren-Netz zügig aus. Die Geräte bieten ein sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis und eignen sich ideal für den Vertrieb über Channel-Partner.
Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs
21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (DDI) vorgestellt. Die Erweiterung ermöglicht einen massiv parallelen Test von CoF-Packages (Chip-on-Film) für die neuste Generation von Smartphone-Displays. Der Adapter wurde speziell entwickelt, um auf die immer höheren Pin-Zahlen von DDIs, höhere Geschwindigkeiten der Schnittstellen und hoch integrierte Funktionen hochauflösender Displays reagieren zu können.
6-kanalige PXI-Mikrowellen-Multiplexer
18. August 2017 - Pickering Interfaces hat seine Palette der 40-785B PXI Mikrowellen-Multiplexer um Module für 50 GHz erweitert. Bei den neuen 6-Kanal Microwave Multiplexern in Einfach- oder Dual- Ausführung sind die Relais direkt an der Frontplatte montiert. Das Modul schaltet Signale bis zu 50 GHz an 50 Ohm. Die Ein-Slot Ausführung kann bis zu 3 frei verkabelte Multiplexer-Relais ansteuern.
BERT zur Verifizierung von PCI Express und 400 GbE sowie 200 GbE
17. August 2017 – Anritsu stellt mit dem Signalqualitätsanalysator (SQA) MP1900A BERT eine vielseitige Lösung zum Messen von PCI Express-Bussen der nächsten Generationen 4 und 5 sowie der neuesten 400 GbE/200 GbE-Ethernet-Netzwerke. Mit einem umfassenden Schnittstellensupport ist der MP1900A eine All-in-one-Lösung für exakte Messungen von elektronischen und optischen Hochgeschwindigkeits-Endgeräten der nächsten Generation sowie von optischen Transceivern.
Kompakter Vektornetzwerkanalysator für S-Parameter-Messungen
16. August 2017 - Mit dem neuen Vektornetzwerkanalysator R&S ZNLE bringt Rohde & Schwarz herausragende HF-Performance und außergewöhnlich hohe Messgeschwindigkeit in die untere Preisklasse. Der R&S ZNLE adressiert die Anforderungen von Kunden, die HF-Messungen zur Charakterisierung von Komponenten wie Antennen, Dämpfungsgliedern, Filtern und Leiterplatten durchführen möchten. Das neue Tischgerät wiegt nur 6 kg und benötigt mit einer Stellfläche von 408 mm x 235 mm bis zu zwei Drittel weniger Platz auf dem Arbeitstisch als vergleichbare Produkte.
Zuken und XJTAG integrieren DFT Assistant in Design-Software vor
15. August 2017 – Zuken und XJTAG haben im Rahmen einer Partnerschaft ein DFT-Tool (Design-for-Testability) entwickelt, das die Zuken-Software CR-8000 um eine leistungsfähige Testmethodik bei der Schaltplaneingabe erweitert. Das Tool basiert auf dem DFT Assistant von XJTAG und wird in diesem Jahr als kostenfreies Plugin für Anwender des CR-8000 Design Gateway verfügbar sein.
Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs
14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durch die Erweiterungen kann die Produktlinie, von der bereits Hunderte Systeme installiert sind, mehr Test-Insertions in der Entwiclung, der Produktion kleiner Stückzahlen und in BIST-Anwendungen (Built-in Self-Test) abdecken. Dies ist mit der selben MPT3000 Architektur und derselben Software möglich. Die modulare Tester-per-DUT-Architektur (Device under Test) und einzigartige Hardware-Beschleunigung des MPT3000 unterstützt nun alle Protokolle und Formfaktoren von SSDs.
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Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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