|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
USB-Messkarten für NI-LabVIEW-RIO-Architektur20. Januar 2014 – National Instruments hat vier neue Multifunktions-Karten der R-Serie für USB (USB-7855R, USB-7856R, USB-7855R OEM und USB-7856R OEM) vorgestellt. Die Produkte basieren auf der LabVIEW-RIO-Architektur und sind als USB-Modul im Gehäuse oder als OEM-Variante im Formfaktor einer Platine verfügbar. Die Multifunktions-RIO-Module (rekonfigurierbare I/O) verfügen über einen anwenderprogrammierbaren FPGA (Field-Programmable Gate Array) für die integrierte Verarbeitung und flexible I/O-Handhabung. Alle analogen und digitalen Funktionen werden mit LabVIEW-Blockdiagrammen und dem NI LabVIEW FPGA Module konfiguriert. Die Ausführung des Blockdiagramms direkt in der Hardware ermöglicht den Zugriff auf sämtliche I/O-Signale. Die Module haben 8 Analogeingänge, 8 Analogausgänge, 48 Digitalleitungen (als Eingänge, Ausgänge, Counter nutzbar) und Digital-I/O-Leitungen mit wählbaren Logikpegeln. Die Kintex-7-FPGAs von Xilinx erlauben eine Implementierung von Aufgaben, z. B. benutzerdefiniertes Timing und Triggerung, Synchronisation, Abtastraten, Hochgeschwindigkeitssteuerung und integrierte Signalanalyse. „Durch den Einsatz dieser neuen USB-Geräte der R-Serie können Anwender mit Standard-PC-Technologien äußerst anpassbare Mess-, Steuer- und Regelsysteme entwerfen“, erklärt Jamie Smith, Director of Embedded Systems Marketing bei National Instruments. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |