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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung

Advantest M417105. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man nach einem kostengünstigen thermisch kontrollierbaren Test von ICs, die während der Bauteilcharakterisierung und im Prototypenstadium eine hohe Verlustleistung aufweisen. Das neue Handling-System reduziert Testkosten, erhöht die Produktivität und ermöglicht den Fernzugriff von überall auf der Welt.

Der portable, Single-Site-Handler automatisiert das Be- und Entladen der Prüflinge, die thermische Konditionierung und das Binning in Engineering-Laboren, in denen die meisten Testaufgaben heute noch manuell erfolgen. Zudem verfügt der Handler über eine aktive thermische Steuerung (ATC), die üblicherweise nur bei größeren und teureren Handlern für Produktionsstückzahlen vorhanden ist.

Über eine Netzwerkverbindung kann der M4171 von jedem Ort der Welt aus für ferngesteuertes Baustein-Handling und eine thermische Steuerung eingesetzt werden. Neben dem geringeren Personalbedarf und der reduzierten Personalkosten maximiert dieser Handler die Systemausnutzung zwischen Arbeitsgruppen an unterschiedlichen Standorten.

Die Kombination von automatischem Bauteil-Handling, weitem ATC-Temperaturbereich von –45 °C bis 125 °C und Fernzugriff macht den M4171 zu einem einzigartigen System. Er kann sowohl vordefiniert als auch anwenderdefiniert multifunktionale Testprozesse (Single Insertion Multiple Temperature), automatisches Testen, automatisches ID-Testen, erneutes Testen der Ausgabe-Trays und manuelles Testen ausführen.

Die Tri-Temp-Technik des M4171 erlaubt es dem Anwender über einen weiten Temperaturbereich zu arbeiten und führt damit zu einer entscheidenden Effizienzsteigerung der Entwicklungslabore. Der direkte Kontakt mit der Bausteinoberfläche ermöglicht eine agile Temperaturänderung für schnelles Anheben oder Absenken und verbessert damit den Test mit Temperaturzyklen um über 40%, verglichen mit manuell gesteuerten Temperaturänderungen.

Der Handler M4171 ist mit den Plattformen V93000 und T2000 sowie anderen Testern kompatibel. Weitere Merkmale sind ein 2D-Barcode-Leser, eine Bauteilwendeeinrichtung und eine Option für hohen Kontaktdruck. Die Bedienung ist aufgrund der intuitiven, einfach zu benutzenden grafischen Bedienoberfläche (GUI) mit vordefinierten Funktionen sehr einfach.

„Indem wir das kostengünstige automatische Testen in Entwicklungslaboren einführen und es unseren Kunden ermöglichen, eine bessere Ausnutzung ihrer installierten Basis zu erzielen, bieten wir ihnen substanzielle Produktionsverbesserungen“, erklärt Toshio Goto, Executive Officer and Manager des Geschäftsbereichs Device Handling von Advantest. „Als unser erster Single-Site ATC-Handler öffnet der M4171 für uns neue Geschäftsmöglichkeiten in der Bausteincharakterisierung in Entwicklungslaboren und Benchtop-Umgebungen.“

www.advantest.de/



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