Boundary-Scan I/O-Modul mit 30 V Ausgangsspannung  

23. August 2012 - GÖPEL electronic stellt unter dem Namen SFX5212 ein weiteres I/O-Modul im Rahmen seiner Boundary-Scan-Hardware-Plattform SCANFLEX vor. Das neue Modul verfügt über unabhängig programmierbare I/O-Kanäle und kann Spannungen bis 30 V verarbeiten. Darüber hinaus bietet es auch die bewährte VarioCore-Technologie zur dynamischen Konfigurierung modulspezifischer Funktionen auf Basis von FPGA.

Das SFX5212 ermöglicht durch die Kombination von strukturellen und funktionalen Testprozeduren auf einer Plattform eine deutliche Verbesserung der Testabdeckung bei nicht scanfähigen Schaltungsteilen oder peripheren Signalen mit höheren Signalspannungen. Neben der Steigerung der Testqualität können gleichzeitig auch die Testkosten durch Einsparung separater Prozessschritte gesenkt werden.

„Das SFX5212 wurde insbesondere für den Test von industriellen Steuerungen oder Automotive-Elektronik entwickelt, wo typischerweise Interfaces mit höheren Spannungen integriert sind“, erklärt Bettina Richter, Marketing Manager bei GÖPEL electronic. „Es kombiniert hohe Fehlerabdeckung mit variablem Funktionsumfang und leistet damit auch einen Beitrag zur höheren Prozesseffektivität beim Anwender. Gleichzeitig ist das neuen I/O-Modul ein wichtiger Eckpunkt im systematischen Ausbau unseres SCANFLEX-Produkt-Portfolios“.

Das SFX5212 verfügt über 12 voneinander unabhängig als Input, Output oder Tri-State programmierbare Kanäle mit einer Treiberleistung von bis zu 150 mA. Die I/O-Spannung kann entweder Onboard-programmiert oder extern eingespeist werden.

Das Modul wird TAP-unabhängig über den SCANFLEX internen, parallelen Bus angesteuert, wobei sich zur Verbreiterung der Kanalzahl auch mehrere Module problemlos kaskadieren lassen.

VarioCore bietet die Möglichkeit, das SFX5212 auf IP-Basis mit einer nahezu unbegrenzten Funktionalität neu zu rekonfigurieren. Diese Rekonfiguration erfolgt dynamisch in Bruchteilen von Sekunden unter Steuerung des ebenfalls von GÖPEL electronic entwickelten JTAG/Boundary-Scan-Programmpaketes SYSTEM CASCON, wobei die Zahl und Sequenz der Rekonfigurationen in einem Testablauf nicht limitiert sind.

Während das Modul im Boundary-Scan-Mode statisch agiert und sämtliche Prozeduren wie Interconnection Test, oder Cluster Test unterstützt, bietet der funktionale Mode Möglichkeiten wie Protokollgenerator, Datenrecorder oder Counter/ Timer Funktionen um nur einige zu nennen.

Das SFX-5212 wird von der integrierten JTAG/Boundary-Scan-Software SYSTEM CASCON ab Version 4.6.1 einschließlich Automatischer Testprogramm-Generierung (ATPG), Debugging und Pin-Fehler Diagnose vollständig unterstützt und kann mit allen SCANFLEX-Controllern und SCANFLEX TAP-Transceivern kombiniert werden. Darüber hinaus lässt sich das Modul im Rahmen der wegweisenden Embedded System Access (ESA) Philosophie auch problemlos in sämtliche weitere Testtechnologien wie Processor Emulation Test (PET) oder Chip embedded Instruments involvieren.