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Bit Error Rate Test (BERT) mittels FPGA Embedded Instruments

22. März 2013 - Die IP-basierende ChipVORX-Technologie von GÖPEL electronic kann von nun an zur Ausführung von Bit Error Rate Tests (BERT) eingesetzt werden. Die hochautomatisierte Lösung ermöglicht den Einsatz von FPGA Embedded Instruments in Form von speziellen Softcores zum Test und zur Design-Validierung von Highspeed-I/O. Anwender können dadurch die Qualität der Übertragungskanäle durch Messung der Bitfehlerrate beurteilen. Zur Unterstützung der Design-Validierung ist auch eine grafische Auswertung per Augendiagramm möglich.

ChipVORX übernimmt den kompletten Prozessablauf: die Programmierung des Target FPGA, die IP-to-Pin-Konfigurierung, die Instrumentensteuerung sowie die Datenverarbeitung und das finale Entladen des IP. Die BERT-Parameter sind im Debug-Mode auch interaktiv ohne Designsynthese veränderbar und werden sofort wirksam. Dadurch ist der Einsatz der neuen BERT-Lösung sehr effektiv und anwenderfreundlich.

„Bereits bei der Ankündigung der Prototypdemonstration unserer neuen ChipVORX-Modelle zum Bit Error Rate Test Ende letzten Jahres verzeichneten wir ein enormes Interesse, was letzten Endes auch den strategischen Stellenwert dieser Technik bei der Qualitätssicherung moderner High-Speed-Designs widerspiegelt“, freut sich Thomas Wenzel, Geschäftsführer der JTAG/Boundary Scan Division bei GÖPEL electronic. „Die neuen IP bieten die zugriffstechnischen Rahmenbedingungen, um Embedded Designs mit FPGA-basierenden GBit-Links zukünftig noch effektiver validieren und testen zu können. Gleichzeitig bauen wir damit auch unsere führende Position bei synthesefreien FPGA Embedded Instruments weiter aus“.   

Embedded Instruments

Chip Embedded Instruments sind in einem Integrierten Schaltkreis fest oder temporär implementierte Mess- und Prüffunktionen. Sie bilden faktisch das Gegenstück zu externen Test- und Messinstrumenten, benötigen jedoch keine invasiven Kontaktierungen in Form von Tastköpfen oder Nadeln. Dadurch vermeiden sie auch das Problem von Signalverfälschungen bei Highspeed-Designs durch parasitäre Kontaktierungs-Effekte. Chip Embedded Instruments sind Teil der sogenannten Embedded System Access (ESA) Technologien, die zu den derzeit modernsten Strategien zur Validierung, zum Test, Debugging sowie zur Programmierung komplexer Boards und Systeme gehören. Sie können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten. 

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