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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Federkontaktstifte für 2,54mm Rastermaß

Yamaichi ICT Spring Probe17. Dezember 2019 – Yamaichi Electronics erweitert das Portfolio der gefederten Pins für große Rastermaße. Bisher ist Yamaichi Electronics für hohe Präzision im Bereich der Halbleitertestsockel mit Kontaktstiftabständen von 0,25mm bis 1,27mm bekannt. Um die Anforderungen bei der Kontaktierung von bestückten Baugruppen in In-Circuit Tests (ICT) zu erfüllen, sind jetzt auch Federkontaktstifte für das Rastermaß von 2,54mm verfügbar.

Durch die Eigenfertigung der Pin-Spitzen können nahezu alle vorstellbaren Geometrien gefertigt werden. Derzeit ist ein Spektrum von über 30 verschiedenen Pinspitzenformen verfügbar.

Die Federkontaktstifte sind mit den gängigen am Markt verfügbaren Hülsen kompatibel.

www.yamaichi.eu/



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