Jitter-Analyse an Clock- und Datensignalen mit dem Oszilloskop

23. Mai 2013 – Jitter-Messungen sind ein wichtiger Bestandteil bei der Entwicklung von Schaltungen mit seriellen High-Speed-Datenschnittstellen wie USB 2.0 oder HDMI. Eine besondere Herausforderung stellt dabei die als Zeitreferenz genutzte Embedded Clock des Signals dar. Diesen Bedarf adressiert Rohde & Schwarz mit neuen Optionen für seine Oszilloskope der Serie R&S RTO. 

Die neue Jitter-Analyse-Option R&S RTO-K12 bietet neben automatischen Jitter-Messungen eine Vielzahl durchdachter Funktionen. So führt beispielsweise ein Wizard-Menü den Anwender bei den wichtigsten Messungen zu schnellen Ergebnissen. Für die automatische Messfunktion TIE (Time Interval Error) wurde eine konfigurierbare Software-CDR (Clock Data Recovery) implementiert. Die Track-Funktion stellt den Verlauf von Messwerten in zeitlicher Korrelation zur Messkurve dar und eröffnet somit zusätzliche Analysemöglichkeiten. Bei der schnellen Erstellung von Maskentests helfen geometrische Grundformen.  

Die konfigurierbare Hardware-CDR der neuen Option R&S RTO-K13 ist Teil des ASIC im R&S RTO. Damit steht Anwendern eine vollständig integrierte Lösung zur Verfügung. Sie schafft erstmals die Möglichkeit, eine auf die Embedded Clock bezogene Triggerung und Signalanalyse in Echtzeit durchzuführen. So lässt sich die Signalintegrität an seriellen High-Speed-Schnittstellen mit bis zu fünf Gigabit/Sekunde analysieren. Histogramme und Maskentests liefern innerhalb kürzester Zeit zuverlässige Ergebnisse.   

Die neuen Optionen R&S RTO-K12 (Jitter-Analyse) sowie R&S RTO-K13 (Clock Data Recovery) sind ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich.  

www.rohde-schwarz.com/