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Boundary-Scan-Integration in Takaya Flying-Prober

XJTAG Systech15. November 2017 – XJTAG, ein Anbieter von Boundary-Scan-Technologie, und Systech Europe, der europäische Vertriebspartner von Takaya, haben gemeinsam eine integrierte Boundary-Scan-Lösung für Takaya Flying-Prober entwickelt. Durch die Kombination lassen sich die Testabdeckung erhöhen und die Testzeiten verkürzen.

Da viele Komponenten derzeit als BGA oder Gehäuse mit besonders dicht liegenden Anschlüssen hergestellt werden, lässt sich durch die Kombination von Flying-Prober und Boundary-Scan-Funktion eine höhere Testabdeckung als mit einem Flying-Prober allein erreichen. Die Integration verhilft den Testingenieuren außerdem zu kürzeren Testzykluszeiten bei gleichzeitiger Erhöhung der Testabdeckung.

Jörg Lewandowski, Geschäftsführer von Systech Europe, kommentiert die Zusammenarbeit mit XJTAG: „Testingenieure sehen sich mit Komponenten, die wenig oder gar keinen Zugang zu ihren Pins bieten, einem zunehmenden Druck ausgesetzt und auch der Platz für Testpunkte ist stark eingeschränkt. Bei Systech Europe sind wir ständig auf der Suche nach den besten Testlösungen für unsere Kunden und fanden heraus, dass XJTAG-Boundary-Scan einfach bedienbar ist, hervorragende Funktionalität zu einem sehr wettbewerbsfähigen Preis bietet und mit einem flexiblen Lizenzmodell ausgestattet ist.”

Die Testzykluszeit kann reduziert werden, da die Anzahl der vom Flying-Prober ausgeführten Sondenbewegungen optimiert wird. Die Testabdeckung wird erhöht, indem der durch Flying-Probe ermöglichte physikalische Zugang mit XJTAGs, in vielen heutigen Prozessoren und FPGAs bereits integrierten, Boundary-Scan-Technologie kombiniert wird.

www.xjtag.com/

www.systech-europe.de/



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