Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Optischer und elektrischer Test in Kombination

SuK-Bild_00929. April 2010 - Prüftechnik Schneider & Koch kombiniert mit dem Kombinationstestgerät CombiVision den elektrischen Test (FKT/ICT) mit einem automatisch optischen Test (AOI) in einem Gerät. Die Basis dazu bildet das bewährte AOI-System LaserVision, wahlweise als Standalone-, Inline- oder Tischsystem.

Der Kombinationstest umfasst alle gängigen optischen Prüfroutinen, wie die Prüfung auf Bauteilanwesenheit und -lage, Lötstellenkontrolle (SMT/THT), Kurzschlusstest, Schriftenerkennung und Laserhöhenmessung. Durch die Adaption des Prüflings kann anschließend die elektrische Prüfung durchgeführt werden. Die Schnittstelle ist für die universelle Prüflingsaufnahme ausgelegt und verfügt über verschiedenste Kontaktierungsmöglichkeiten. Je nach Kundenanforderung können so passive In-Circuit-Tests, Tests analoger und digitaler Funktionen sowie Funktionstests (End of Line Tests) durchgeführt werden. Optional können zusätzliche Qualitätsparameter überprüft werden. Möglich sind beispielsweise integrierte Akustiktests, Überprüfung von Anzeigenmodulen wie Displays und LEDs sowie mechanische Abgleiche, z.B. durch die Betätigung von Tasten über Pneumatikstößel.

Die Kombination der Prüfverfahren führt letztendlich in ihrer Gesamtheit zur Optimierung der Prüftiefe sowie zu erheblichen Einsparungen an Platzbedarf und beim Handling. Darüber hinaus werden durch das gemeinsame Reparaturplatzkonzept und die statistische Auswertung die Abläufe optimiert sowie Prüfzeiten und -kosten signifikant gesenkt.

www.prueftechnik-sk.de


Aktuelle Termine

SINDEX 2020
- abgesagt -
zur Terminübersicht...
Messtec & Sensor Masters 2020
verschoben auf 22./23. Sept. 2020
zur Terminübersicht...
EMV-Fachtagung
30. Sep. bis 01. Okt.
zur Terminübersicht...