Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Allgemeine Test- und Messtechnik

ni-pxie5185_5186PXI-Digitizer mit 5 GHz Bandbreite und 12,5 GS/s Abtastrate

27. April 2011 – National Instruments hat zusammen mit Tektronix den PXI-Digitizer NI PXIe-5186 mit einer Bandbreite von bis zu 5 GHz und einer Abtastraten von 12,5 GS/s entwickelt. Des Weiteren bringt National Instruments den Digitizer NI PXIe-5185 auf den Markt, der eine Bandbreite von 3 GHz und eine Abtastrate von 12,5 GS/s erreicht.

Proprietäre Oszilloskop-ASICs von Tektronix bilden in diesen neuen Digitizern die Grundlage für die Hochgeschwindigkeits-Signalerfassung bei geringem Rauschen und hoher Linearität. Sie basieren auf dem höchst zuverlässigen 7HP-SiGe-Prozess von IBM. Ein Beispiel für die überragende Signaltreue, die auf der „Tektronix, Enabling Technology“ beruht, ist der extrem geringe Sampling-Jitter des Digitizers. Der äußerst niedrige RMS-Jitter von 500 fs führt zu beachtenswerten effektiven Bit (ENOB) von 5,5 bei 5 GHz. Die Technologie von National Instruments sorgt für einen hohen Datendurchsatz zur schnelleren Ausführung von Prüfanwendungen sowie für das hochgenaue Timing und die Synchronisation mehrerer Module zur Erstellung integrierter Prüfsysteme mit hoher Kanalanzahl. Die für die PXI-Express-Plattform ausgelegten Digitizer können Daten mit Raten von 700 MB/s übertragen und Kanäle über mehrere Module bis zu einer Auflösung von 160 ps synchronisieren. Dank dieser Fähigkeiten eignen sich die Digitizer ideal für Anwendungen wie automatisierte Produktionstests, Halbleiterprüfsysteme und Messsysteme im Bereich Hochenergiephysik.

„Wir freuen uns, gemeinsam mit Tektronix ein Produkt entwickelt zu haben, das die Stärken beider Unternehmen vereint: Tektronix’ Technologien zur Hochleistungsdatenwandlung und die softwaredefinierten Messgeräte von NI“, so Dr. James Truchard, President, CEO und Mitbegründer von National Instruments. „Diese neuen Digitizer zeigen den weitreichenden Einfluss des Mooreschen Gesetzes auf Prüfanwendungen, durch das höhere Leistung bei kleineren Formfaktoren wie PXI ermöglicht wird.“

Die Digitizer lassen sich mit der Software für das grafische Systemdesign NI LabVIEW für die Messgeräte-Steuerung und -automatisierung, der ANSI-C-Softwareentwicklungsumgebung LabWindows™/CVI sowie mit .NET-Entwicklungswerkzeugen von Microsoft Visual Studio einsetzen, so dass für vielfältige Programmieroptionen gesorgt ist. Sie können mithilfe des Messgerätetreibers NI-SCOPE oder dem neuen LabVIEW Jitter Analysis Toolkit programmiert werden, das eine Bibliothek mit Funktionen speziell für hohen Durchsatz, Jitter-Messungen, Augendiagramme und Phasenrauschmessungen bietet.

www.ni.com/digitizers/d


Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...
Intersolar Europe
19. bis 21. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung