|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikPXI-Schaltmodule mit Solid-State-Architektur01. Juni 2012 – National Instruments stellt die neuen Solid-State-RF-Multiplexer NI PXI-2543 und NI PXIe-2543 vor, mit denen eine langlebige, leistungsstarke Lösung für das Routen von RF-Signalen bis zu 6,6 GHz zur Verfügung steht. Die Solid-State-Architektur ermöglicht höhere Schaltgeschwindigkeiten und häufiger wiederholbare Messungen als traditionelle elektromechanische Schaltlösungen. „Die neuen Solid-State-Schaltmodule NI PXI-2543 und NI PXIe-2543 bauen auf der NI-PXI-Plattform auf und bieten in RF-Anwendungen die Geschwindigkeit und Verlässlichkeit einer Solid-State-Architektur“, erläutert Charles Schroeder, Director of Test Marketing bei National Instruments. „Mit diesen Modulen können Ingenieure aus dem Bereich automatisierte Tests eine Vielzahl von PXI-Messgeräten, z. B. RF-Generatoren und -Analysatoren, integrieren und synchronisieren, um Präzision sowie Durchsatz zu erhöhen und so das Beste aus ihren Systemen herauszuholen.“ Überblick über die Funktionen:
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |