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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikParametrisches Testsystem für Wafer-Tests20. Januar 2022 – Keysight Technologies hat das parallele parametrische Testsystem Keysight P9002A vorgestellt. Das Testsystem bietet einen kosteneffizienten Wafertest mit hohem Durchsatz sowie eine flexible Optionsstruktur für bis zu 100 Kanäle paralleler Testressourcen, einschließlich der für parametrische Tests an jeder Testressource erforderlichen Testfunktionen. Ein neuer Adapter für Tastkopfkarten und die SPECS-Software unterstützen zudem einen reibungslosen Produktionsanlauf. Die P9000-Serie von Keysight bietet Softwarekompatibilität mit der SPECS-Software der parametrischen Tester der Serie 4080, so dass Kunden ihre bestehenden Testprogramme und Testpläne mit Datenkorrelationen nutzen können. Das neue parallele parametrische Testsystem P9002A von Keysight bietet die folgenden wichtigen Kundenvorteile:
„Keysight freut sich, die Entwicklung und Herstellung von sich ständig weiterentwickelnden Halbleitern mit fortschrittlichen Messlösungen wie dem Testsystem P9002A unterstützen zu können“, sagte Shinji Terasawa, Vice President und General Manager der Wafer Test Solutions von Keysight. „Diese neue Lösung spiegelt das Engagement von Keysight wider, unseren Kunden bei der Lösung ihrer geschäftlichen Herausforderungen mit bewährter Erfahrung und Expertise bei parametrischen Tests zu helfen.“ www.keysight.com/ Weitere News zum Thema: |
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