Digital I/O-Modul auf PXI-Basis für signalkritische Anwendungen

06. September 2011 - GÖPEL electronic gibt unter dem Namen PXI5396-DT/x die Markteinführung von zwei weiteren JTAG Digital I/O Modulen bekannt. Die PXI5396-DT/x unterstützen sowohl den strukturellen JTAG/Boundary Scan Test, als auch dynamische I/O Operationen bis 100MHz zur Ausführung von Funktionstests und verfügen über ein Impedanz-kontrolliertes VPC-Interface zur direkten Ankopplung an signalkritische Load-Boards oder andere Desktop-Verifikationsumgebungen.

Dadurch eröffnet sich die Möglichkeit die gleiche Testhardware sowohl zur Verifikation im Labor, als auch in der Produktion mit Adapter-basierten Systemen einzusetzen, was in einer hohen Flexibilität resultiert.

„Mit den neuen Modulen adressieren wir insbesondere den Wunsch nach vereinheitlichten Lösungen für Labor und Produktion bei sicherheitskritischen Applikationen in Bereichen wie Luft- und Raumfahrt, Militär oder öffentlicher Transport“, erklärt Stefan Meißner, Marketing Manager bei GÖPEL electronic. „Diese Kompatibilität erzeugt nicht nur Synergie-Effekte durch die Möglichkeit der Übernahme von Testprogrammen, sondern erlaubt bereits bei der Prototypen-Verifikation die Realisierung einer deterministischen Testtiefe, welche später in der Produktion vollständig reproduzierbar ist“.

Die PXI 5396-DT/x sind eine zwei Komponenten Lösung und bestehen aus einem PXI gestützten Interface Modul (IFM) und einem abgesetzten Desktop Modul. Die Entfernung der Module kann bis zu 2m ohne Performanceverlust betragen. Das Desktop Modul verfügt über einen Frontsteckverbinder von Virginia Panel Corporation und kann dadurch direkt an die Testumgebung angedockt werden. Diese Lösung erzielt eine optimale Integrität der I/O Signale durch vollständig kontrollierbare Leitungsimpedanzen.

Es gibt zwei Modelle, welche sich durch die Tiefe des On-Board Speichers von 72MB (PXI 5396-DT) und 144MB (PXI 5396-DT/XM) unterscheiden. Beide Modelle bieten 96 als Input, Output und Tri-State konfigurierbare Single-Ended-Kanäle, welche auch simultanes Treiben und Messen, sowie Echtzeitvergleich erlauben.

Während im JTAG-Mode die Signale vollsynchron zu Testbusoperationen verarbeitet werden, ermöglicht der dynamische I/O-Mode die funktionale Testung mit frei programmierbaren Taktfrequenzen im Bereich 500Hz bis zu 100MHz. Dadurch können zunächst strukturelle Boundary-Scan-Tests und anschließend Funktionstests mit dem gleichen Instrument ausgeführt werden.

Zur flexiblen Anpassung des Instruments an die Unit Under Test (UUT) ist das Interface in vielen Parametern per Software programmierbar. Weitere Flexibilität erlangt das Modul durch die implementierte VarioCore-Technologie, welche den Einsatz kundenspezifischer IP eingebettet in der Hardware des Instruments ermöglicht.

Softwareseitig werden die PXI 5396-DT/x durch die integrierte JTAG Boundary Scan Entwicklungsumgebung SYSTEM CASCON ab Version 4.5 vollständig unterstützt. Dazu gehören u.a. die automatische Erstellung von Verdrahtungslisten, sowie die automatische Testprogramm­Generierung (ATPG) für Boundary Scan. Nach der Testausführung erfolgt im Fehlerfall eine entsprechende Fehlerdiagnose auf Pin- und Netzlevel, wobei der Fehlerort auch grafisch im Layout visualisiert werden kann.

Die Ausführung von funktionalen dynamischen Tests und die anschließende Fehlerdiagnose beruhen auf dem Standard IEEE 1445 Digital Test Interchange Format (DTIF). Darüber hinaus steht auch ein interaktiver Waveform-Editor zur Verfügung.

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