|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und Messtechnik
Röntgeninspektion ermöglicht detailreiche Live-Inspektion23. April 2014 – GE Inspection Technologies stellt erstmals auf der SMT in Nürnberg auf Stand 400 in Halle 7 eine deutlich verbesserte Version seiner 2D Röntgeninspektionssoftware phoenix x|act vor. Sie kombiniert eine höhere Benutzerfreundlichkeit mit einer noch detailreicheren Live-Inspektion dank der exklusiven Flash! Filters Bildoptimierungstechnologie. Die neue Software umfasst verbesserte Funktionen wie z.B. eine intuitive BGA Lötstelleninspektion und automatische Voiding Calculation von Die-Attach-Klebungen in ICs oder in Flächenlötungen selbst bei unregelmäßigen Konturen. Zur weiteren Leistungssteigerung der phoenix|x-ray Inspektionslösungen bietet GE die x|act Inspektionssoftware nun optional mit seiner exklusiven Flash! Filters Technologie an. Diese sorgt für eine bisher unerreichte Bildverbesserung direkt während der live Prüfung, so dass auch ungeübte Bediener exzellente Inspektionsergebnisse erzielen. Bei dieser innovativen GE Filtertechnologie wird die in jedem Röntgenbild vorhandene Grauwertedynamik derart für das menschliche Auge optimiert, dass Fehler schneller und zuverlässiger identifiziert werden können. In Kombination mit den hochdynamischen digitalen GE DXR Detektoren in den phoenix microme|x und nanome|x-Röntgeninspektionssystemen führt die Flash! Filter Technologie zu einer erheblichen Zeitersparnis und höheren Fehlererkennungsrate in der Elektronik-Inspektion. Neben hoch auflösender 3D Computertomographie bietet GE Besuchern des SMT Standes 400 in Halle 7 Live Demonstrationen der neuen Flash! Filters Inspektionstechnologie an ihren mitgebrachten eigenen Proben an. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |