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Allgemeine Test- und Messtechnik

electronica 2016: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick - Update!

04. November 2016 - Vom 09. bis 11. November findet in München wieder die Messe electronica statt. Wie immer gibt es auch zahlreiche Neuheiten im Test- und Messtechnik-Bereich, die erstmals auf der electronica ausgestellt werden. Wir haben die wichtigsten Neuerungen für Sie in übersichtlicher Form zusammengestellt. Die Liste erhebt keinen Anspruch auf Vollständigkeit und wird auch noch während der Messe stetig erweitert.

Die folgenden Neuheiten aus dem Test- und Messtechnik-Bereich wurden bisher angekündigt:

Unternehmen Neuheit Stand
Advantest Tester für IoT-Bauteile T2000 AiR A1-565
Advantest Hochgenaue A/D-Wandler-Testlösung für EVA100 System A1-565
ATEcare Manuelle und halbautomatische Röntgensysteme von Crative Electron A1-143
ATEcare 2. Generation der OMRON 3D-AOI-Systeme A1-143
GÖPEL electronic 3D-AOI Vermessung im Vario Line System A1-351
GÖPEL electronic AXI-System X-Line mit automatische Lotkugelsuche A1-351
GÖPEL electronic GCAT Gigabit Link Cable Tester A1-351
HEIDEN power Neu: Vertrieb von Leistungsanalysatoren der Firma Infratek, 6-Kanal-Gerät 108A A2-513
HEIDEN power Kompakte rückspeisende AC-Quelle HACR50 A2-513
Instrument Systems Spektralradiometer für Messungen an Laserdioden A1-443
Keysight eCall Konformitätstestlösung A1-506
National Instruments PXI-Oszilloskop mit 14 Bit Auflösung und 1GS/s A1.317
Pico Technology Tastköpfe für Signale bis 18 Gb/s A1-115
PLS - Programmierbare Logik & Systeme Debug-, Test- und Systemanalyse-Tool für Infineon AURIX TC3xx Mikrocontroller A6-A16
Rigol Oszilloskop-Familie DS4000E A1-224
Rohde & Schwarz Testlösung für Keyless-Entry Systeme (Automotive) A1-307
Rohde & Schwarz PIM-Analysator für Test von Basisstationen A1-307
Rohde & Schwarz Neuer Millivolt-Tastkopf für Oszilloskope A1-307
Rohde & Schwarz Analyse von CXPI-Schnittstellen mit dem Oszilloskop A1-307
Tektronix CAN FD Unterstützung für Mixed-Domain-Oszilloskope A1-438
Tektronix 100G Link Training Tool A1-438
Tektronix Wafer-Tester für Leistungshalbleiter bis 3 kV (Keithley) A1-438
Viscom Schutzlack-Inspektion mit hoher Auflösung A1-227
Viscom 360View 3D-Aufnahmen mit AOI-System A1-227
Yokogawa  PSI5 Analyse Funktion für Oszilloskope A1-117

Falls wir eine Neuvorstellung zur electronica übersehen haben, freuen wir uns über einen Hinweis an: Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!

 



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