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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestPXI-Systemplattform ermöglicht Boundary Scan, MDA und Funktionstest06. Mai 2009 - Anlässlich der Fachmesse SMT/Hybrid/Packaging zeigen GÖPEL electronic, National Instruments und Elowerk eine PXI/PXI Express Plattform für einen kombinierten Boundary Scan, MDA und Funktionstest. In-System Emulationstechnik für Power PCTM Architektur05. Mai 2009 - GÖPEL electronic hat eine speziellen Modellbibliothek zur Emulation der auf einer Power PCTM Architektur basierenden Automotive Prozessoren MPC55xx von Freescale® mittels Boundary Scan Verfahren entwickelt. National Instruments stellt Test Suite für Wireless LAN vor04. Mai 2009 - Die neue WLAN-Messsoftware von National Instruments für NI LabVIEW und softwaredefinierte PXI-RF-Messgeräte ermöglicht schnelle und flexible Messungen für WLAN (Wireless Local Area Network). pb tec ist neuer Distributor für Mirtec04. Mai 2009 - Mirtec Europe, ein Anbieter von AOI-Systemen, hat pb tec zum Distributor seiner Produkte in Deutschland, Österreich und Teilen der Schweiz ernannt. Göpel präsentiert spezielle Automotive-Testlösungen04. Mai 2009 - GÖPEL electronic wird auf der Mitte Juni in Stuttgart stattfindenden Testing Expo Europe neue „Automotive Test Solutions" zeigen. TECO entwickelt Hochstromkontakte für bis zu 1200 Ampere29. April 2009 - TECO zeigt auf der SMT 2009 in Nürnberg erstmals seine neue Hochstrom- Adaptierung, die für Ströme bis zu 1200 Ampere und Spannungen bis zu 2kV geeignet ist. Seminar: Müssen Sie elektronische Baugruppen überhaupt testen?27. April 2009 - JTAG Technologies und Digitaltest veranstalten während der SMT Nürnberg ein gemeinsames Seminar mit dem Thema "Müssen Sie elektronische Baugruppen überhaupt testen?". Weitere Beiträge ...
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