PXI-Testlösung für RF-Leistungsverstärker

20. Oktober 2011 – National Instruments stellt eine vollständige PXI-basierte Lösung für den Validierungs- und Produktionstest von RF-Leistungsverstärkern vor. Die PXI-Testlösung umfasst verschiedene Messinstrumente und ermöglicht eine Vielzahl von Tests und Messungen und wurde kürzlich auf dem Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2011“ gezeigt.

Die NI-PXI-Lösung für den Test von Leistungsverstärkern umfasst eine Vielzahl an leistungsstarken Mixed-Signal-Messgeräten, darunter den Vektorsignalanalysator NI PXIe-5665 bis 14 GHz, den Digitalsignalgenerator/-analysator NI PXIe-6556 mit PPMU (per Pin Parametric Measurement Unit), den Batteriesimulator NI PXIe-4154 und den Digitizer NI PXIe-5186 mit 12,5 GS/s und 5 GHz. Mit diesen PXI-basierten modularen Messgeräten können Ingenieure an Leistungsverstärkern eine Vielzahl von Tests und Messungen durchführen, darunter Zeit-Leistungs-Vergleich-, EVM- (Error Vector Magnitude), ACLR- (Adjacent Channel Leakage Ratio), Leckstrom-, Oberwellen- sowie Leerlauf- und Kurzschlusstests.