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News - Baugruppen- und System-Test

Kompakte und kostengünstige Tester für Serienfertigung und Reparatur

ATEip_V25003. Juni 2011 - Die neuen kostengünstigen Qmax-Systemplattformen V250/V2200, die Testerspezialist ATEip exklusiv anbietet, erlauben einen wirtschaftlichen Test von komplexen Mixed-Signal-Baugruppen. Mit den Systemen lassen sich rasch und einfach komplexe Cluster- und Funktionsprüfungen durchführen, wobei virtuelle Boundary-Scan- sowie auf dem Board vorhandene Pins genutzt werden. Zur Fehlersuche sind leistungsfähige Software-Tools zum Backtracking und für Signaturscan vorhanden. Ein Fault Coverage Analyzer überprüft die Qualität der realisierten Tests.

Die Einstiegssystemplattform Qmax V250 ist als kompakter Desktop-Tester konzipiert und kann auf bis zu 256 vollhybride Pins ausgebaut werden. Bei Systemplattform Qmax V2200 hingegen handelt es sich um eine sehr weit ausbaufähige Midrange-Version im 19-Zoll-Format mit Zugriff auf eine größere Zahl von Optionen. Beide Testerplattformen arbeiten prinzipiell mit der gleichen Systemsoftware und fallweise identischer Hardware. Über verschiedene Optionen lassen sich diese Systeme flexibel erweitern, dazu gehört beispielsweise auch die komplexe Messung der Flankensteilheit digitaler Signale.

Abhängig vom Ausbau und Instrumentierung liegen die Kosten dieser Lösungen im Bereich von ca. 19.000 bis 80.000 Euro. Am unteren Teil dieser Investitionsskala findet sich die Konfiguration V200/V250 mit 64/64 analog/digitalen Kanälen, im oberen Bereich die Plattform V2200 mit 256/256 analog/digitalen Kanälen.

Die Einstiegsversion V250 kann mit seiner Basis-Timing-Einheit (40 ns) Testpattern bis maximal 25 MHz erzeugen und anlegen. Analogtests lassen sich bis 10 MHz mit einer Sampling-Rate von 25 MHz ausführen. Hinter jedem Digital-Pin sitzt ein RAM mit 256k x 8, jeder Analogkanal (14-bit DAC) hält ein RAM-Backup von 256k x 28 vor. Es sind bereits alle nötigen Stromversorgungen zur Grundversorgung der Prüfobjekte integriert: +3,3V/10A, +5V/10A, -5V/10A, +15V/8A, -15V/8A und 2 programmierbare Quellen von 0V bis 36V/6A.

Die ausbaufähige Plattform V2200 ist ebenfalls ein sehr kompaktes System, dessen Basiskonfiguration 48 High-Current-Pins umfasst (sinnvoller Einstieg mit 96+96 Kanälen) und bei Bedarf bis 320/320 analog/digitale Kanäle ausgebaut werden kann, in der Summe also 640 Kanäle.

Die maximale System-Konfiguration des V2200 zeichnet sich durch folgende Funktionen und Charakteristiken aus: PCI oder USB-Interface, 320 U/I-Kanäle für Signatur-Tests, 320 Kanäle für In-Circuit/Funktionstests und Prüfungen über die üblichen Board-Steckverbindungen, zusätzlich 4 frei multiplexbare Analogkanäle, 8-Slot PXI Chassis, 36 V/6A programmierbares Power-Supply, hochqualitative VPC-Steckverbindungsleiste (vom bewährten Top-Hersteller Virginia Panel) zum Anschluss des Prüfobjekts/Testadapters. Als wichtige Optionen sind hier verfügbar: Circuit Tracing, IDDE (Integrated Device Description Environment Package), Boundary Scan Test Software (JTAG, IEEE1149.1) sowie Bus-Cycle-Signature System Software.

Zur Programmgenerierung steht eine Bibliothek von derzeit circa 34.000 unterschiedlichen Baustein-Modellen zur Verfügung, die laufend ergänzt wird. Die IC-Modelle sind programmiert in den Beschreibungssprachen VHDL (Very High Speed Integrated Circuit Hardware Description Language) sowie im QDDL-Code (Qmax Device Description Language). Die Anwender können jederzeit an den Modellen spezifische Anpassungen oder Änderungen vornehmen, womit die Einrichtung einer kundenspezifischen IC-Bibliothek unterstützt wird. Mit dieser Ausstattung der Plattform sind die Anwender zudem in der Lage, bei Bedarf in ihrem Wareneingang Chips und Halbleiter rasch per Clip zu überprüfen.

www.ATEip.de


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