Fachvorträge von Anbietern innovativer Prüftechnik sowie Anwendern verschiedener Prüfverfahren präsentieren den aktuellen Stand der Technik, Fall- und Applikationsbeispiele sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen. Insgesamt erhalten Teilnehmer des Technologietags entscheidende Anhaltspunkte zur Auswahl des geeigneten Prüfverfahrens.

Referenten, Aussteller und Experten informieren auf dem Technologietag zu folgenden Themenbereichen:

• Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen
• Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI)
• JTAG/Boundary Scan
• Chip-embedded Instrumentation
• Funktionstest (FKT)
• Kombination verschiedener Testverfahren

In den Pausen, im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion haben die Teilnehmer umfassende Möglichkeiten zum Ausfahrungsaustausch und zu Diskussionen mit Experten und Fachkollegen. Zusätzlich bietet eine begleitende Ausstellung weitere Einblicke in Produkte und Technologien.

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