News - Baugruppen- und System-Test

 40 Gigabit BERT für Test von Datenkommunikation

18. März 2014 - Tektronix hat den ersten voll integrierten programmierbaren Pattern-Generator (PPG) für 40 Gigabit der Industrie vorgestellt. Dieser ermöglicht zusammen mit dem kürzlich vorgestellten 40G-programmierbaren Fehlerdetektor nun eine vollständige BERT-Lösung für Datenraten bis zu 40 Gigabit pro Sekunde. Mit 200 fs Random Jitter (RJ) und einer Anstiegszeit von 8 ps bietet der neue Tektronix PPG4001 die für einen Test serieller Daten mit 40 Gbit/s notwendige Leistung und Signalqualität.

Entwicklungsingenieure, die sehr schnelle Daten- und Langstrecken-Kommunikationstechnologien entwickeln, müssen ihre SERDES, ICs, Komponenten, Module und Systeme prüfen, um sicherzustellen, dass sie entsprechend der Spezifikation arbeiten. Die ansteigenden Datenraten machen es den Ingenieuren zunehmend schwieriger, geeignete Testlösungen insbesondere bei 40 Gb/s zu finden. Extrem leistungsfähige und einfach einzusetzende integrierte Instrumente, wie der Tektronix PatternPro PPG und der PED, ermöglichen den Ingenieuren eine schnelle und effiziente Durchführung der erforderlichen Tests.

"Die Forderung nach einer hohen Bandbreite hat starken Einfluss auf neue Standards und Anwendungen, wie 100G Ethernet, 400G Ethernet, OIF-CEI VSR und eine kohärente optische Datenübertragung", sagt Brian Reich, General Manager, Performance Oscilloscopes bei Tektronix. "Der PPG4001 und PED4001 sind die derzeit schnellsten voll integrierten Benchtop-Instrumente und stellen den Ingenieuren die benötigte Leistung für den Test ihrer ICs, optischen Transceiver und Systeme zur Verfügung."

Es ist entscheidend, dass die Testsysteme leistungsfähiger sind, als die Testobjekte. Ansonsten werden die Instrumente zum Engpass und es lassen sich keine zuverlässigen Testergebnisse erreichen. Außerdem sind Merkmale, wie programmierbare Datenrate, PRBS- und programmierbare Datenmuster sowie Jitter-Erzeugung notwendig, um bestimmen zu können, ob ein Design die Anforderungen der Anwendung erfüllt. Der PPG4001 entspricht oder überschreitet sogar die Anforderungen hinsichtlich der Leistung und Merkmale für serielle 40 Gbit/s Datenanwendungen.

Neben einer hohen Datenrate und Qualität der Ausgangssignale erhöht der PPG4001 mit seinen integrierten Jitter-Stress-Möglichkeiten auch die Produktivität der Ingenieure. Der PPG4001 umfasst Optionen für die Erzeugung von hochfrequentem Jitter (RJ, SJ und BUJ) sowie niederfrequentem Jitter (SJ). Diese Funktionen lassen sich über eine Taste auf der Frontplatte einschalten oder ferngesteuert programmieren und erlauben einen umfassenden Stresstest von optischen Modulen und elektrischen SERDES-Bauteilen.

Die einfache Nutzung wird durch einen Touchscreen mit einer anwenderfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche gewährleistet, wobei keine Rekonfiguration oder Charakterisierung des Instruments notwendig ist, um von einem Teststandard zum anderen umzuschalten. Zudem wird ein großer Umfang von programmierbaren Datenraten und Pattern unterstützt, die alle notwendigen Betriebsbedingungen abdecken, um die Produktleistung und Funktionalität umfassend zu prüfen.

Die Auslieferung beginnt voraussichtlich im zweiten Quartal 2014.

www.tektronix.com/

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