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Baugruppen- und System-Test

Programm zur Berechnung der Testabdeckung

24. September 2009 - Auf der Productronica 2009 im neuen Münchner Messe Zentrum präsentiert ASTER Technologies, der führende Softwareanbieter im Bereich Testbarkeit auf Baugruppenebene und Testabdeckungsanalyse, eine weiterentwickelte Generation von "easy to use" Programmen zur Berechnung der Testabdeckung.

Da die Elektronikhersteller darauf angewiesen sind ihre Fertigungsqualität immer weiter zu optimieren, ist es unumgänglich die Effizienz eines Tests zum Finden von Herstellungsfehlern auszuwerten. In anderen Worten "wie gut ist meine Testabdeckung?"

Aster Technologies entwickelte in den letzten zwei Jahren eine neue Generation von Produkten, die es ermöglichen präzise, sehr detaillierte und objektive Testabdeckungsmaßstäbe zu ermitteln. Mit deren Hilfe kann dann überprüft werden, ob Bauteile ausreichend getestet sind.

Mit Hilfe des äußerst leistungsfähigen Layout- und Schaltplan-Viewers QuadView-TPQR kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Zu den unterstützen Herstellern und Systemen gehören unter anderem: Agilent Technologies (3070, 5DX, SJ10, SJ50), Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x), TAKAYA (APT800, APT900), AEROFLEX (42xx), SPEA (4040), TRI, Orbotech, VI Technology, VISCOM, Asset, Corelis, Göpel, JTAG Technologies und XJTAG.

Das Tool TestWay Express bietet eine noch wesentlich ausgefeiltere und komplexere Analyse der Testabdeckung als QuadView-TPQR. Es erlaubt Anwendern, innerhalb einer heterogenen Produktionslinie unterschiedliche Arten von Inspektions- oder Testeinrichtungen zu kombinieren. Dabei wird sowohl die Testabdeckung der individuellen Stationen, als auch die kombinierte Testabdeckung der gesamten Produktionslinie errechnet.

Bereits während einer frühen Entwicklungsphase kann die mit bestimmten Teststrategien verknüpfte Testabdeckung theoretisch ermittelt werden. Auf diese Weise werden ggf. Bereiche aufgedeckt, bei denen sich der Grad der Testabdeckung noch verbessern lässt. Die Möglichkeit, die theoretische Testabdeckung zu optimieren, führt durch höhere Testeffizienz zu höherer Produktionsausbeute und niedrigeren Gesamtkosten. Auf der anderen Seite kann TestWay Express die bei einer vorhandenen Produktion tatsächlich erreichte Testabdeckung berechnen, indem es die Testprogramme und Testabdeckungsberichte der unterschiedlichen Tester einliest und daraus die erreichte Testabdeckung ermittelt. Auf diesem Weg ist es möglich, einen Vergleich zwischen der theoretisch möglichen und der praktisch erreichten Testabdeckung durchzuführen.

Eine Vielzahl unterschiedlicher Testszenarien kann durch einfaches Auswählen von Testeinrichtungen aus einer Liste mittels Drag-and-Drop durchgeführt werden, um eine spezielle Testerlinie zu konfigurieren. Durch Simulation unterschiedlicher Kombinationen können Anwender die Vorteile jeder Lösung wirksam ins Spiel bringen, indem Fehlalarme und ungenaue Diagnosen reduziert werden. Die Vermeidung von Testüberlappungen macht sich vorteilhaft durch Verringerung der Gesamt-Testzeit bemerkbar.

TestWay Express identifiziert nicht nur effizient die Lücken in der Testabdeckung einer Gesamttest-Strategie. Durch die Analyse der Anzahl der in jeder Stufe der Testlinie entdeckten Fehler werden auch die Defizite jeder einzelnen Station sichtbar.

www.aster-technologies.com


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