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Baugruppen- und System-Test

Röntgeninspektion mit schneller und zuverlässiger Fehlererkennung

GE-Flash25. November 2013 – GE Inspection Technologies stellt eine deutlich verbesserte Version seiner 2D Röntgeninspektionssoftware phoenix x|act vor. Die neue Software umfasst verbesserte Funktionen wie z.B. für eine intuitive BGA-Lötstelleninspektion und automatische Voiding Calculation von Die-Attach-Klebungen in ICs oder in Flächenlötungen – selbst wenn diese unregelmäßige Konturen haben. Eine neue Bildverbesserungs-Technologie optimiert zudem die im Röntgenbild vorhandenen Grauwert-Informationen automatisch für die menschliche Wahrnehmung.

Zur weiteren Leistungssteigerung der phoenix|x-ray Inspektionslösungen bietet GE die x|act Inspektionssoftware nun optional mit seiner Flash! Filters Technologie an. Diese sorgt für eine bisher unerreichte Bildverbesserung direkt während der live Prüfung, so dass auch ungeübte Bediener exzellente Inspektionsergebnisse erzielen. Bei dieser innovativen Filtertechnologie wird die in jedem Röntgenbild vorhandene Grauwertedynamik derart für das menschliche Auge optimiert, dass Fehler schneller und zuverlässiger identifiziert werden können. In Kombination mit den hochdynamischen digitalen GE DXR Detektoren in den phoenix microme|x und nanome|x-Röntgeninspektionssystemen führt die Flash! Filter Technologie zu einer erheblichen Zeitersparnis und höheren Fehlererkennungsrate in der Elektronik-Inspektion.

www.ge-mcs.com/



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