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Baugruppen- und System-Test

 

Kompaktes Evaluation Board für Embedded Instruments Technologie

13. Juni 2014 - GÖPEL electronic stellt mit CION LX ein Evaluation Board (EVB) speziell zur Demonstration der Testmöglichkeiten des CION LX Schaltkreises vor. Dies ist laut Göpel electronic der erste per JTAG steuerbare Tester on Chip (ToC). Der Anwender kann mithilfe des Evaluation Board sämtliche Funktionsmodi verifizieren und darüber hinaus auch eigene Applikationen und Testszenarien entwickeln.

Damit kann das gesamte Leistungsspektrum des CION LX Chips sowie das Potential der Embedded System Access (ESA) Technologie erschlossen werden.

Über Steckverbinder werden sämtliche Pins des Schaltkreises verfügbar gemacht. Das Board bietet darüber hinaus Zusatzressourcen wie LED und einen einstellbaren Clock-Generator bis 170MHz, was eine ideale Basis zum Nachvollziehen von Frequenzmessungen oder Signalaufzeichnungen durch den digitalen Waveform Recorder darstellt.

Die Steuerung der Features erfolgt über den JTAG Port. Darüber hinaus verfügt das Evaluation Board über einen TAP-Steckverbinder, welcher einen direkten Zugriff über Boundary Scan Controller wie bspw. des Typs PicoTAP erlaubt.

Über den CION LX

Der CION LX wurde in einer 0,35 µm Mixed-Signal-CMOS-Technologie entwickelt und verfügt über vier unabhängige I/O-Ports. Jeder Port kann individuell in einem Spannungsbereich von 0,9 V bis 3,6 V betrieben werden. Die integrierte Boundary-Scan-Architektur unterstützt die Standards IEEE1149.1, IEEE1149.6 und IEEE1149.8.1, wobei die maximale TCK-Frequenz 100 MHz beträgt. Außer den Single-Ended-Pins bietet der CION LX auch differentielle Signale, sowie Interfaces mit erhöhter Treiberfähigkeit. Die vier Betriebsmodi ermöglichen die flexible Nutzung des Schaltkreises als rein seriell gesteuerten JTAG-Transceiver, als parallelen I/O-Buffer oder gelatchten Bus-Transceiver, sowie als Pin-Treiber.

Zusätzlich wurden in den CION LX Instrumente wie Digitizer, arbiträrer Waveform Generator, Ereigniszähler, Frequenzmesser oder Toggle-Detektoren integriert. Der Zugriff auf diese Instrumente ist, abhängig von den Betriebsmodi, entweder seriell über den JTAG Test Access Port (TAP) oder über einen parallelen Steuerbus möglich. Die Aktivierung der Instrumente kann simultan zu Boundary-Scan-Operationen und pro Testkanal erfolgen. Zusätzlich sind für jeden Kanal individuell Pull-Up oder Pull-Down Widerstände zuschaltbar. Außerdem besteht die Möglichkeit, die Slew Rate der Treiber zu programmieren.

www.goepel.com/

 



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