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Baugruppen- und System-Test

Automatisierte Konformitätsprüfung für USB 3.1 Typ-C

Tek USB3p1 Testlösung08. Dezember 2016 - Tektronix stellt eine automatisierte USB 3.1 Typ-C Transmitter-Testlösung für Gen1 und Gen 2 vor, die eine volle SigTest-Unterstützung mit DPOJET-Debugging- und Analyse-Tools kombiniert. Damit können die Entwickler Geräte mit verbesserter Toleranzreserve in kürzerer Zeit auf den Markt bringen. Die neue Lösung ermöglicht einen Konformitätstest mit 100 Prozent Testabdeckung und bietet eine volle Unterstützung für die neuen Typ-C Stecker, Adapter und die zugehörigen Kanaltests.

SigTest ist das offizielle Tool für die elektrische Konformitätsprüfung von SuperSpeed USB 3.1. Es bietet aber nur einen eingeschränkten Einblick in die Ursache von Fehlern und keine Unterstützung für eine zusätzliche Analyse. Durch die Kombination der SigTest Unterstützung mit DPOJET - einem erstklassigen Tool für Augendiagramm-, Jitter-, Störsignal- und Timing-Analysen - bietet Tektronix jetzt den USB-Entwicklern eine viel umfassendere Lösung als Alternativen, die nur SigTest unterstützen.

"Mit der Vorstellung der SuperSpeed USB Software für unsere Oszilloskope ermöglichen wir dem Ökosystem eine einfachere Zertifizierung von Endgeräten und Produkten gemäß USB-IF", sagt Brian Reich, General Manager Performance Oscilloscopes bei Tektronix. "Mit der Integration von DPOJET geben wir unseren Kunden leistungsfähige Debugging-und Analyse-Tools an die Hand, so dass sie schnell die Ursache von Problemen finden und bessere Toleranzreserven in ihre Produkte einbauen können."

Das optionale USBSSP-TX Tool wurde speziell für den Einsatz mit den Oszilloskopen der MSO/DPO/70000DX/SX Serie von Tektronix entwickelt und erlaubt eine Testautomatisierung quasi auf Knopfdruck. Da sichergestellt wird, dass die Messtechnik richtig konfiguriert wird, spart dies viel Zeit. Damit können auch Anwender, die keine umfassenden Kenntnisse über die USB-Spezifikation haben, genaue Tests ausführen. Nach der Durchführung der Tests dokumentiert ein ausführlicher Pass-/Fail-Prüfbericht alle Messabweichungen von der Konformität und stellt Daten zu der Toleranzreserve zur Verfügung. Im Gegensatz zu alternativen Lösungen können die Ingenieure die Messungen im Offline-Modus wiederholen, um Fehler zu analysieren und zu beseitigen.

Für eine tiefergehende Analyse bietet DPOJET eine benutzerdefinierte Kontrolle von Analyse-Parametern, was die Fehlersuche beschleunigt und die Design-Charakterisierung deutlich vereinfacht. Zum Beispiel können die Konturen von BER-Augendiagrammen im DPOJET Plugin für eine horizontale und vertikale Zerlegung von Jitter und Störrauschen genutzt werden, um die Entwicklungsingenieure bei der Charakterisierung der Geräte zu unterstützen.

Verfügbarkeit und Preise

Die optionale USBSSP-TX Lösung von Tektronix für USB 3.1 Gen1 und Gen 2 mit Unterstützung für SigTest 4.0.23 ist ab sofort verfügbar. Die Preise beginnen bei €16.400.

www.tektronix.com/



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