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Baugruppen- und System-Test

electronica_2010Seica präsentiert neue Generation von In-Circuit und Funktionstestsystemen

20. Oktober 2010 - Seica SpA, ein Anbieter von elektrischen Testlösungen für elektronische Baugruppen und Modulen, präsentiert auf der electronica 2010 in Halle A1 auf Stand 459 die überarbeitete Flying Probe Plattform Pilot und eine neue Generation von In-Circuit und Funktionstestsystemen aus der Compact Linie.

PILOT ist laut Seica die derzeit vielseitigste und umfangreichste Linie von automatischen Flying Probe Testsystemen für den Test von elektronischen Baugruppen am Markt.

Die Modelle reichen von 4 bis 8 Testnadeln, die gleichzeitig auf einer oder auf beiden Seiten der Baugruppe zugreifen, positioniert in einer entweder horizontalen oder vertikalen Architektur. Die Pilot Tester können mit verschiedenen Messtechniken ausgestattet werden, wie Flyscan, Thermalscan, Quicktest, Power Probes oder Parallel Test. Dies werden alle im Pilot V8 Testsystem am Seica Stand gezeigt.

Dank dieser Innovationen ermöglichen die Seica Systeme umfangreiche Lösungen, die vom traditionellen In-Circuit und Funktionstest, über Boundary Scan, Thermischen Scan, Paralleltest für mehrfache Baugruppen reichen, wobei sowohl eine kurze Setup-Zeit, als auch eine hohe Fehlerabdeckungsrate gewährleistet werden kann.

Die In-Circuit und Funktionstester der COMPACT LINIE zeichnen sich durch eine maximale Flexibilität, hohe Test- und Messgenauigkeit und hohe Testgeschwindigkeit, bei gleichzeitig reduzierten Platzbedarf und extrem niedriger Leistungsaufnahme, aus.

 

Seica stellt auf der electronica 2010 als besondere Highlights aus:

  • Das Compact TK System, dediziert für den In-Circuit Test und ausgestattet mit Paralleltestfähigkeiten, um die Testzeit signifikant zu reduzieren
  • Das Compact DT System, eine interessante Funktionstestlösung, ausgestattet mit analogen, digitalen und Boundary Scan-Testfunktionen, integriert in einem sehr kleinen Gehäuse, das für einen Einbau in Racks von komplexeren Systemen vorbereitet ist.
  • Die Compact VL Lösungen, die dank der hohen Flexibilität und der Hard- und Software-Konfigurationsmöglichkeiten ideal für Automotive-Tests geeignet sind

 

www.seica.com


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