|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestVeränderung in der Geschäftsleitung von Höcherl und Hackl25. September 2023 - Die Gründer und bisherigen Geschäftsführer von Höcherl und Hackl haben sich entschlossen die Leitung an die nächste Generation weiterzugeben. Dies ist ein bedeutender Meilenstein in dem familiengeführten Unternehmen. Johann Hackls Tochter und Helmut Höcherls Sohn übernehmen die Geschäftsführung und führen die Tradition der Firma fort: die Entwicklung und Produktion elektronischer Lasten in Spitzenqualität. Dieser Übergang ist ein Meilenstein in der Geschichte des Unternehmens: Von den bescheidenen Anfängen als 2-Mann-Betrieb ist es in 37 Jahren zu einem Unternehmen mit 47 engagierten Mitarbeitern herangewachsen. Die neuen Geschäftsführer, Laura Hackl-Späth und Marco Höcherl sind keine unbekannten Gesichter im Unternehmen. Sie haben viele Jahre ihrer beruflichen Laufbahn in der Firma verbracht und sind daher bestens vertraut mit den Herausforderungen und Chancen, denen das Unternehmen gegenübersteht. Mit ihrer Erfahrung und ihrem Engagement wollen sie H&H erfolgreich in die Zukunft führen und die Position in der Branche weiter stärken. Höcherl und Hackl senior bleiben im Boot Die scheidenden Geschäftsführer geben zwar ihre Führungspositionen ab, werden aber mit ihrer Expertise weiterhin als Berater sowohl für die junge Führungsebene als auch für die Entwicklungsmannschaft zur Verfügung stehen. www.hoecherl-hackl.de/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |